[发明专利]一种超突变变容二极管有效

专利信息
申请号: 202110747919.7 申请日: 2021-07-02
公开(公告)号: CN113488546B 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 马文力;董文俊;张雪飞;李浩;徐婷 申请(专利权)人: 扬州国宇电子有限公司
主分类号: H01L29/93 分类号: H01L29/93;H01L29/06
代理公司: 南京源点知识产权代理有限公司 32545 代理人: 罗超;黄启兵
地址: 225000 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 突变 变容二极管
【权利要求书】:

1.一种超突变变容二极管,其特征在于,包括:

N型重掺杂衬底;

N型轻掺杂外延层,设置于所述N型重掺杂衬底上方;

P型重掺杂层,设置于所述N型轻掺杂外延层内上部,所述P型重掺杂层向下延伸出若干个凸起一,若干个所述凸起一均呈柱状且相互间隔分布;

N型掺杂缓冲层,设置于所述N型轻掺杂外延层和所述P型重掺杂层之间,所述N型掺杂缓冲层沿所述凸起一向下延伸;

其中,所述N型重掺杂衬底向上延伸出若干个凸起二,若干个所述凸起二均呈柱状且相互间隔分布,所述凸起二与所述凸起一间隔交错设置。

2.根据权利要求1所述的超突变变容二极管,其特征在于:在N型轻掺杂外延层上方设置有正面多层金属,所述正面多层金属与所述P型重掺杂层连通,在N型重掺杂衬底下方设置有背面多层金属。

3.根据权利要求1所述的超突变变容二极管,其特征在于:所述P型重掺杂层掺杂浓度为1×1017/cm3~3×1019/cm3,所述凸起一高度为1μm~50μm,所述凸起一剖面宽度为0.1μm~20μm。

4.根据权利要求3所述的超突变变容二极管,其特征在于:所述N型重掺杂层掺杂浓度为1×1017/cm3~3×1019/cm3,所述凸起二高度为1μm~50μm,所述凸起二剖面宽度为0.1μm~20μm。

5.根据权利要求4所述的超突变变容二极管,其特征在于:所述N型掺杂缓冲层的厚度为0.1μm~10μm,掺杂浓度为5×1015/cm3~5×1017/cm3

6.根据权利要求5所述的超突变变容二极管,其特征在于:所述N型掺杂缓冲层的浓度从上至下呈均匀分布、线性分布、高斯分布或余误差分布。

7.根据权利要求6所述的超突变变容二极管,其特征在于:所述N型掺杂缓冲层的掺杂浓度峰值靠近P型重掺杂一侧。

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