[发明专利]用于过滤测量数据集的方法和计算机程序产品

权利要求书

1.一种用于过滤测量数据集的方法，所述测量数据集能够用于指定和/或验证工件(100)的内部特征(10)，所述方法包括以下步骤：

提供包括所述内部特征(10)的多个测量点(P)的测量数据集；

提供表示对所述工件(100)的内部特征(10)的理想估计的辅助特征(30)；

在所述辅助特征的边界元素上对所述测量数据集的各测量点(P)进行镜像，由此生成包括多个第一修改测量点(P’)的第一修改数据集；

确定所述第一修改测量点(P’)的凸包(H)，并将所述第一修改测量点(P’)投影到所确定的凸包(H)上，由此生成包括多个第二修改测量点(P”)的第二修改数据集；以及

在所述辅助特征(30)的边界元素上对各第二修改测量点(P”)进行镜像，由此生成包括多个过滤后的测量点(P”’)的过滤后的测量数据集。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，提供测量数据集包括借助于坐标测量装置来捕获测量数据。

3.根据权利要求1或2所述的方法，

其中，所述辅助特征(30)是基于所述内部特征(10)的设计数据和/或所述工件(100)的设计数据而定义的预定理想特征；或者

其中，所述辅助特征(30)是基于所述测量数据集而确定的高斯特征。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，所述辅助特征(30)是圆、球体、圆柱体或圆锥体。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中，在所述辅助特征(30)的边界元素上对所述测量数据集的各测量点(P)进行镜像包括：

对于各测量点(P)，定义在所述辅助特征(30)的边界元素上的相应第一反射点(R1)；

对于各测量点(P)，确定所述测量点(P)和所述相应第一反射点(R1)之间的相应第一距离(d1)；以及

通过对于各测量点(P)确定镜像测量点来生成所述第一修改数据集，其中，通过使所述测量点(P)穿过所述相应第一反射点(R1)移动所确定的相应第一距离(d1)的两倍来获得所述镜像测量点。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，对于各测量点(P)，定义所述相应第一反射点，使得：

所述相应第一反射点(R1)位于所述辅助特征(30)的边界元素上，以及

所述测量点(P)和所述相应第一反射点(R1)之间的虚拟线相对于所述辅助特征(30)在所述相应第一反射点(R1)处的切线或切面(T)垂直。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中，将所述第一修改数据集的第一修改测量点(P’)投影到所确定的凸包(H)上以如下方式进行：

正交于所述凸包(H)，和/或

相对于所述辅助特征(30)的中心或轴线在径向方向上。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其中，在所述辅助特征(30)的边界元素上对所述第二修改数据集的各第二修改测量点(P”)进行镜像包括：

对于各第二修改测量点(P”)，定义在所述辅助特征(30)的边界元素上的相应第二反射点(R2)；

对于各第二修改测量点(P”)，确定所述第二修改测量点(P”)和所述相应第二反射点(R2)之间的相应第二距离(d2)；以及

通过对于各第二修改测量点(P”)确定反镜像点来生成所述过滤后的测量数据集，其中，通过使所述第二修改测量点(P”)穿过所述相应第二反射点(R2)来移动所确定的相应第二距离(d2)的两倍来获得所述反镜像点。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述相应第二反射点(R2)与根据权利要求6的相应第一反射点(R1)相对应。