[发明专利]一种基于自主建图的路线检测方法、装置以及电子设备

权利要求书

1.一种基于自主建图的路线检测方法，其特征在于，包括：

获取待测轨迹点的曲率；

获取与所述待测轨迹点相邻的第一轨迹点的曲率；

获取与所述待测轨迹点相邻的第二轨迹点的曲率；

根据所述待测轨迹点的曲率，所述第一轨迹点的曲率，以及所述第二轨迹点的曲率，计算所述待测轨迹点的得分；

判断所述待测轨迹点的得分是否大于预设值；

若是，则确定所述待测轨迹点是跳变轨迹点；

否则，确定所述待测轨迹点不是跳变轨迹点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测轨迹点的曲率的步骤，进一步包括：

拟合所述待测轨迹点和第二轨迹点所在的曲线的轨迹方程；

根据所述轨迹方程，获取所述待测轨迹点的曲率。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述拟合所述待测轨迹点和第二轨迹点所在的曲线的轨迹方程的步骤，进一步包括：

获取所述待测轨迹点的横纵坐标；

获取所述第二轨迹点的横纵坐标；

获取所述第一轨迹点的横纵坐标；

获取与所述第二轨迹点相邻的第三轨迹点的横纵坐标，其中，所述第三轨迹点远离所述待测轨迹点；

根据所述待测轨迹点的横纵坐标、第二轨迹点的横纵坐标、第一轨迹点的横纵坐标和第三轨迹点的横纵坐标，拟合所述待测轨迹点和第二轨迹点所在的曲线的轨迹方程。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述待测轨迹点和第二轨迹点所在的曲线的轨迹方程为：

P(t)＝A+Bt+Ct²+Dt³；

其中，所述t为参数，t∈[0，1]；

其中，所述A、B、C和D可根据四个约束条件求解；

所述四个约束条件包括：

t＝0时，P(0)等于所述待测轨迹点的纵坐标；

t＝1时，P(1)等于所述第二轨迹点的纵坐标；

t＝0时，P′(0)等于第二轨迹点的纵坐标与第一轨迹点的纵坐标的差值，再乘以预设参数；

t＝1时，P′(1)等于第三轨迹点的纵坐标与待测轨迹点的纵坐标的差值，再乘以所述预设参数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述轨迹方程，获取所述待测轨迹点的曲率的步骤，进一步包括：

获取所述待测轨迹点和第二轨迹点所在的曲线上的各个点的横坐标关于参数t的参数方程X(t)；

获取所述待测轨迹点和第二轨迹点所在的曲线上的各个点的纵坐标关于参数t的参数方程Y(t)；

所述待测轨迹点和第二轨迹点所在的曲线上的各个点的曲率公式为：

其中，t＝0时，K(0)即为所述待测轨迹点的曲率。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测轨迹点的曲率，所述第一轨迹点的曲率，以及所述第二轨迹点的曲率，计算所述待测轨迹点的得分的公式为：

score_i＝|K_i-K_i-1|+|K_i+1-K_i|；

其中，所述score_i为所述待测轨迹点的得分，所述K_i为所述待测轨迹点的曲率，所述K_i-1为所述第一轨迹点的曲率，所述K_i+1为所述第二轨迹点的曲率。

7.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：标记所述跳变轨迹点。