[发明专利]芯片的验证方法与验证系统

权利要求书

1.一种芯片的验证方法，所述芯片包括多个内核电路组，所述验证方法包括：

从所述多个内核电路组中选择第一待测内核电路组；

从所述多个内核电路组中选择至少一个进行模拟，获取内核电路组模型模块，其中，所述内核电路组模型模块与所述第一待测内核电路组信号连接；

向所述第一待测内核电路组提供第一激励信号，以及向所述内核电路组模型模块提供第二激励信号；

基于所述第一激励信号，所述第一待测内核电路组执行用于所述第一待测内核电路组的第一功能性操作，以及执行第一请求信号的发送和来自于所述内核电路组模型模块的第一应答信号的接收，获得第一执行结果；

基于所述第二激励信号，所述内核电路组模型模块执行第二请求信号的发送和来自于所述第一待测内核电路组的第二应答信号的接收，获得第二执行结果；

根据所述第一激励信号模拟得到用于所述第一待测内核电路组的第一期望结果，以及根据所述第二激励信号模拟得到用于所述内核电路组模型模块的第二期望结果；

对比所述第一执行结果与所述第一期望结果，以及对比所述第二执行结果与所述第二期望结果，用以确定用于所述第一待测内核电路组和所述内核电路组模型模块的验证结果。

2.如权利要求1所述的验证方法，其中，从所述多个内核电路组中选择至少一个进行模拟，获取内核电路组模型模块，包括：

对所述多个内核电路组中除去所述第一待测内核电路组之外的剩余内核电路组进行模拟，获取所述内核电路组模型模块。

3.如权利要求2所述的验证方法，其中，所述剩余内核电路组包括两个以上所述内核电路组。

4.如权利要求1所述的验证方法，其中，

所述第一激励信号包括第一读访问信号和/或第一写访问信号，所述第一功能性操作包括第一读操作和/或第一写操作；

所述第二激励信号包括第二读访问信号和/或第二写访问信号。

5.如权利要求1所述的验证方法，其中，基于所述第一激励信号，所述第一待测内核电路组执行用于所述待测内核电路组的第一功能性操作，以及执行第一请求信号的发送和来自于所述内核电路组模型模块的第一应答信号的接收，获得第一执行结果，包括：

基于所述第一激励信号，所述第一待测内核电路组执行用于所述第一待测内核电路组的所述第一功能性操作，得到第一操作结果；

基于所述第一激励信号，所述第一待测内核电路组向所述内核电路组模型模块发送所述第一请求信号，所述内核电路组模型模块基于所述第一请求信号向所述第一待测内核电路组反馈对应的所述第一应答信号；

所述第一执行结果包括所述第一操作结果和所述第一应答信号。

6.如权利要求1所述的验证方法，其中，基于所述第二激励信号，所述内核电路组模型模块执行第二请求信号的发送和来自于所述第一待测内核电路组的第二应答信号的接收，获得第二执行结果，包括：

基于所述第二激励信号，所述内核电路组模型模块向所述第一待测内核电路组发送所述第二请求信号，所述第一待测内核电路组基于所述第二请求信号向所述内核电路组模型模块反馈对应的所述第二应答信号；

所述第二执行结果包括所述第二应答信号。