[发明专利]用于测量凸缘高度的组件、适配器装置和方法

权利要求书

1.一种用于测量零件凸缘高度的组件(12)，包括：

位移计(26)，其包括测量杆(16)，所述测量杆配置成接触凸缘端部并被凸缘端部直线平移；以及

适配器装置(14)，其耦合于位移计(26)，其中适配器装置(14)包括第一臂(14a)和第二臂(14b)，第一臂和第二臂之间限定沟槽(20)，其中第一臂(14a)配置成布置在凸缘的第一侧，第二臂(14b)配置成布置在凸缘的第二侧，而位移计(26)的测量杆(16)布置在沟槽(20)中，其中第一臂(14a)和第二臂(14b)从位移计(26)伸出，并且第一臂(14a)和第二臂(14b)中的至少一个配置成靠近凸缘接触该零件。

2.如权利要求1所述的组件(12)，其中第一臂(14a)和第二臂(14b)中的至少一个的端部具有锥度(22)。

3.如权利要求1所述的组件(12)，其中第一臂(14a)和第二臂(14b)中的至少一个的端部终止于圆角(24)。

4.如权利要求1所述的组件(12)，其中第一臂(14a)和第二臂(14b)中的至少一个配置成接触在凸缘基部处将零件与凸缘相接的半径部分。

5.如权利要求1所述的组件(12)，其中位移计(26)的测量杆(16)的末端(28)从沟槽(20)以及第一臂(14a)和第二臂(14b)每个的端部突伸一段距离，该距离对应于零件的厚度，以使得通过测量杆(16)被凸缘端部移动而测量到的零件凸缘的高度测量值中计入了零件的厚度。

6.如权利要求1所述的组件(12)，进一步包括处理器和存储器，其耦合于位移计(26)，并且可操作以记录测量杆(16)的直线平移和零件凸缘的高度测量值。

7.一种用于测量零件凸缘高度的适配器装置(14)，包括：

基部结构(34)，其配置成被耦合于包括测量杆(16)的位移计(26)，所述测量杆配置成接触凸缘端部和被凸缘端部直线平移；以及

第一臂(14a)和第二臂(14b)，其耦合于基部结构(34)，并且第一臂和第二臂之间限定沟槽(20)，其中第一臂(14a)配置成布置在凸缘的第一侧，第二臂(14b)配置成布置在凸缘的第二侧，而位移计(26)的测量杆(16)布置在沟槽(20)中，其中第一臂(14a)和第二臂(14b)从位移计(26)伸出，并且第一臂(14a)和第二臂(14b)中的至少一个配置成靠近凸缘接触零件。

8.如权利要求7所述的适配器装置(14)，其中第一臂(14a)和第二臂(14b)中的至少一个的端部具有锥度(22)。

9.如权利要求7所述的适配器装置(14)，其中第一臂(14a)和第二臂(14b)中的至少一个的端部终止于圆角(24)。

10.如权利要求7所述的适配器装置(14)，其中第一臂(14a)和第二臂(14b)中的至少一个配置成接触在凸缘基部处位于零件和凸缘之间的半径部分。

11.如权利要求7所述的适配器装置(14)，其中基部结构(34)形成夹持器，所述夹持器配置成将适配器装置(14)紧固于位移计(26)。

12.如权利要求7所述的适配器装置(14)，其中位移计(26)的测量杆(16)的末端(28)从沟槽(20)以及第一臂(14a)和第二臂(14b)每个的端部突伸一段距离，该距离对应于零件的厚度，以使得通过测量杆(16)被凸缘端部移动而测量到的零件凸缘的高度测量值中计入了零件的厚度。