[发明专利]一种硼浓度测量系统的自动校准方法及装置

权利要求书

1.一种硼浓度测量系统的自动校准方法，其特征在于，包括：

获取坪曲线和阈曲线，并通过坪曲线确定中子探测器的工作高压，通过阈曲线确定脉冲放大器的工作甄别阈值；

当确定工作高压和工作甄别阈值后，启动等温标定程序，通过统计涨落算法确定等温标定试验点的中子计数率是否稳定，当所述中子计数率稳定，则表示硼溶液充分均匀；

根据稳定的中子计数率和化学滴定硼浓度数值绘制标定曲线，并计算标定系数；

将所述工作高压和所述工作甄别阈值作为系统控制参数，基于所述系统控制参数和所述标定系数对所述硼浓度测量系统进行自动校准。

2.根据权利要求1所述的一种硼浓度测量系统的自动校准方法，其特征在于，所述获取坪曲线，包括：

S11：获取预先设置的定时计数时长和初始甄别阈值；

S12：启动坪曲线获取程序，自动调节所述初始甄别阈值至甄别阈设定值，并按照预设调节速率提升中子探测器的工作高压直至测量到中子计数率停止提升；

S13：当所述工作高压稳定后，以稳定的工作高压作为初始高压测试点，稳定的工作高压对应的中子计数率作为初始中子计数率；

S14：根据所述初始高压测试点和间隔电压设置当前高压测试点，并按照定时计数时长记录所述当前高压测试点对应的多个中子计数率，计算多个所述中子计数率的平均值作为当前中子计数率；

S15：将初始高压测试点和当前高压测试点作为坪曲线X轴的数值，初始中子计数率和当前中子计数率作为坪曲线Y轴的数值绘制坪曲线；

S16：计算坪曲线的斜率，若所述坪曲线的斜率大于坪斜阈值，则表示中子探测器的工作高压未进入坪区，将当前高压测试点作为新的初始高压测试点，记录的当前中子计数率作为新的初始中子计数率，重复执行步骤S14-S16，直至所述坪曲线的斜率小于等于坪斜阈值停止；

S17：当所述坪曲线的斜率小于等于坪斜阈值，则表示中子探测器的工作高压进入坪区，将步骤S16中停止时的当前高压测试点作为新的初始高压测试点，记录的当前中子计数率作为新的初始中子计数率，继续根据第二间隔电压设置当前高压测试点，并按照定时计数时长记录所述当前高压测试点对应的多个中子计数率，将多个所述中子计数率的平均值作为当前中子计数率；

S18：将新的初始高压测试点和当前高压测试点作为坪曲线X轴的数值，新的初始中子计数率和当前中子计数率作为坪曲线Y轴的数值继续绘制坪曲线；

S19：若当前高压测试点的电压不大于高压设定上限值，则重复执行S17-S18，直至当前高压测试点的电压大于高压设定上限值停止坪曲线的绘制，得到最终的坪曲线。

3.根据权利要求1所述的一种硼浓度测量系统的自动校准方法，其特征在于，所述获取阈曲线，包括：

S21：获取预先设置的定时计数时长和中子探测器的初始工作高压；

S22：启动阈曲线获取程序，自动调节所述初始工作高压至工作高压设定值，并设置初始甄别阈；

S23：当所述初始甄别阈稳定后，开始对中子探测器的中子计数率进行计数，并根据所述定时计数时长记录多个中子计数率，将多个所述中子计数率的平均值作为初始计数结果保存；

S24：将稳定后的初始甄别阈作为初始甄别阈点，并根据所述初始甄别阈点和间隔甄别阈设置当前甄别阈点，按照定时计数时长记录所述当前甄别阈点对应的多个中子计数率，计算多个所述中子计数率的平均值作为当前计数结果；

S25：将初始甄别阈点和当前甄别阈点作为坪曲线X轴的数值，初始中子计数率和当前中子计数率作为坪曲线Y轴的数值绘制阈曲线；

S26：当所述当前甄别阈点对应的数值不大于甄别阈设定值，则以当前甄别阈点位新的初始甄别阈点，并根据新的初始甄别阈点和间隔甄别阈设置新的当前甄别阈点，按照定时计数时长记录所述新的当前甄别阈点对应的多个中子计数率，将多个所述中子计数率的平均值作为新的当前计数结果，继续执行步骤S25-S26，直至所述当前甄别阈点对应的数值大于甄别阈设定值停止阈曲线的绘制，得到最终的阈曲线。

4.根据权利要求1所述的一种硼浓度测量系统的自动校准方法，其特征在于，所述通过坪曲线确定中子探测器的工作高压，包括：

根据坪区的1/2处原则，从所述坪曲线中确定中子探测器的工作高压。