[发明专利]一种用于流场测试的PIV测试系统精度判断方法及装置有效
申请号: | 202110698885.7 | 申请日: | 2021-06-23 |
公开(公告)号: | CN113421284B | 公开(公告)日: | 2022-09-13 |
发明(设计)人: | 何旭;桑正;刘泽昌;徐雨轩 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G06T7/246 | 分类号: | G06T7/246;G01P5/20 |
代理公司: | 北京科领智诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11782 | 代理人: | 陈士骞;王海霞 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 测试 piv 系统 精度 判断 方法 装置 | ||
1.一种用于流场测试的PIV测试系统精度判断方法,其特征在于,所述方法包括:
获取相机拍摄的包含示踪粒子的流场图像;并对所述流场图像进行灰度化处理,得到处理后图像;
在所述处理后图像中获取N幅子图像;所述子图像的大小为预设大小;各所述子图像均不包含重合区域;
针对每幅子图像,分别对该子图像给与五种基准流场运动,得到五幅运动后图像;所述五种基准流场运动包括:水平平移运动、第一角度斜直线平移运动、第二角度斜直线平移运动、竖直平移运动、以及轴心为该子图像中心的旋转运动;
针对每幅子图像,分别对该子图像对应的各运动后图像与该子图像进行互相关分析,得到五幅速度矢量图;并分别根据所述五幅速度矢量图得到对应的五个预测流场运动;
针对每幅子图像,将所述五个预测流场运动分别与对应的五种基准流场运动进行对比,从对比结果中选取粒子识别率最大值;
对所有的子图像对应的粒子识别率最大值进行加权平均,得到总粒子识别率,并判断所述总粒子识别率是否大于预设阈值;
当所述总粒子识别率不大于所述预设阈值时,根据所述速度矢量图对实验装置进行调试,并返回执行所述获取相机拍摄的包含示踪粒子的流场图像的步骤;
其中,所述针对每幅子图像,分别对该子图像对应的各运动后图像与该子图像进行互相关分析,得到五幅速度矢量图的步骤包括:
针对每幅子图像,确定该子图像对应的任一运动后图像与该子图像的灰度分布函数;
对所述灰度分布函数进行互相关运算,分别得到示踪粒子水平和竖直位移的最高峰;
根据所述最高峰的位置计算所述示踪粒子在水平和竖直方向的平均位移;
根据所述相机的拍照间隔,对所述平均位移进行速度计算,得到该运动后图像对应得到速度矢量图。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述处理后图像中获取N幅子图像的步骤包括:
将所述处理后图像按预设裁剪规则裁剪为所述预设大小的多幅初始子图像;
在各所述子图像中选取所包含粒子数大于预设阈值的初始子图像,确定为N幅子图像。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述针对每幅子图像,分别对该子图像给与五种基准流场运动,得到五幅运动后图像的步骤包括:
针对每幅子图像,对该子图像给与位移距离为8个像素单位的水平平移运动,得到第一运动后图像;
对该子图像给与位移距离为8个像素单位的45度斜直线平移运动,得到第二运动后图像;
对该子图像给与位移距离为8个像素单位的竖直平移运动,得到第三运动后图像;
对该子图像给与位移距离为8个像素单位的135度斜直线平移运动,得到第四运动后图像;
对该子图像给与旋转角度为5度的旋转运动,得到第五运动后图像。
4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述预设大小包括32*32像素。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京理工大学,未经北京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110698885.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种工厂化茯苓栽培基质及茯苓栽培方法
- 下一篇:显示面板和显示装置