[发明专利]一种基于MCU的高耐压双隔离CAN收发器测试电路技术装置

说明书

本发明公开了一种基于MCU的高耐压双隔离CAN收发器测试电路技术装置，属于测试电路技术领域，它包括数据信号处理与检测装置、FR4基板，所述数据信号处理与检测装置包括信号处理芯片、通用MCU、双路CAN收发器、USB通信接口芯片、SD卡存储芯片、LCD显示屏幕、4.2V通用锂电池、配置电路芯片，所述通用MCU、双路CAN收发器、USB通信接口芯片、SD卡存储芯片、LCD显示屏幕和配置电路芯片连接于FR4基板的上表面上，所述通用MCU与双路CAN收发器之间采用双隔离的方式布设。本发明提高了测试的可靠性和易实现性，具有良好的实用价值。

技术领域

本发明涉及测试电路技术领域，尤其涉及一种基于MCU的高耐压双隔离CAN收发器测试电路技术装置。

背景技术

CAN总线连接器具有开发维护成本低、总线利用率高、传输速率高等优点，已经广泛的应用于如汽车电子、智慧城市、智能家居等多种自动化场景中，具有广阔的使用场景和用户基础，为满足在多种领域内的应用，CAN总线连接器必须具备高可靠性，能够适应多种恶劣条件，其中就包括在具备一定的工作状态下的耐压能力，传统的测试方式仅能支持在不供电下测试CAN总线连接器的耐压能力，无法直接测试工作状态下的耐压能力，一些采用隔离变压器的耐压测试方案不仅方案设计繁琐，且可靠性不高，为此，我们提出一种基于MCU的高耐压双隔离CAN收发器测试电路技术装置。

发明内容

本发明主要针对于现有技术中的测试方式仅能支持在不供电下测试CAN总线连接器的耐压能力，无法直接测试工作状态下的耐压能力，且方案设计繁琐，可靠性不高的问题，提供一种基于MCU的高耐压双隔离CAN收发器测试电路技术装置；通过采用通用MCU和双路CAN收发器为核心，设置USB通信接口芯片、SD卡存储芯片、LCD显示屏幕、4.2V通用锂电池和配置电路芯片电路，提高了测试的可靠性和易实现性，具有良好的实用价值。

本发明的一种基于MCU的高耐压双隔离CAN收发器测试电路技术装置，包括数据信号处理与检测装置、FR4基板，所述数据信号处理与检测装置包括信号处理芯片、通用MCU、双路CAN收发器、USB通信接口芯片、SD卡存储芯片、LCD显示屏幕、4.2V通用锂电池、配置电路芯片，所述通用MCU、双路CAN收发器、USB通信接口芯片、SD卡存储芯片、LCD显示屏幕和配置电路芯片连接于FR4基板的上表面上，所述通用MCU与双路CAN收发器之间采用双隔离的方式布设。

优选的，所述通用MCU和双路CAN收发器用于处理并收、发数据，所述通用MCU和双路CAN收发器之间的数据通信通过通用MCU的CAN接口实现，所述通用MCU通过16路ADC采样接口采集双路CAN收发器各对外IO引脚的电平，并在所述通用MCU内部处理之后通过标准的串行总线接口实现对外通讯和信息交换。

优选的，所述SD卡存储芯片和USB通信接口芯片分别通过SDIO接口和SPI接口与通用MCU进行通信，并通过微带线的方式连接于FR4基板表面上。

优选的，所述FR4基板规格为TG150，所述FR4基板上镀有布线。

优选的，所述通用MCU和双路CAN收发器的输入端口分别与独立的4.2V通用锂电池的输出端口电性连接。

优选的，所述通用MCU、双路CAN收发器、USB通信接口、SD卡存储芯片、LCD显示屏幕、配置电路芯片通过微带线与FR4基板电性连接。

本发明具有如下有益效果：