[发明专利]工业自动化资产和控制项目分析在审
| 申请号: | 202110684791.4 | 申请日: | 2021-06-21 |
| 公开(公告)号: | CN114137910A | 公开(公告)日: | 2022-03-04 |
| 发明(设计)人: | 斯科特·A·米勒;内森·雷诺;克里斯托弗·韦恩·科莫;纳撒尼尔·S·桑德勒;瑞安·P·邓恩;小布鲁斯·T·麦克利夫;凯尔·赖斯纳;斯蒂芬·C·布赖恩特 | 申请(专利权)人: | 罗克韦尔自动化技术公司 |
| 主分类号: | G05B19/418 | 分类号: | G05B19/418 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 唐京桥;董娟 |
| 地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 工业 自动化 资产 控制 项目 分析 | ||
本发明涉及工业自动化资产和控制项目分析。工业开发中心(IDH)支持作为基于云的服务而提供的工业开发和测试能力。IDH包括增强的存储平台和相关联的设计工具,所述增强的存储平台和相关联的设计工具用作客户可以在其上存储控制项目代码、设备配置以及工业自动化项目的其他数字方面的存储库。IDH系统可以促进与控制系统相关联的数字内容的发现和管理,并且可以用于系统备份和恢复、代码转换以及版本管理。
技术领域
本公开内容大体上涉及工业自动化系统,并且例如涉及工业编程开发平台。
背景技术
操作技术(OT)级系统可以是不同且复杂的,并且可以与许多物理设备进行集成。这种具有挑战性的环境,加上特定领域的编程和开发语言,可以使得OT级上控制系统的开发变得困难,从而导致开发、测试以及最终部署新的控制系统设计的开发周期很长。此外,考虑到当前的虚拟化和模拟能力的普遍缺乏,因此在可以开始实际测试或优化之前,必须在物理操作环境中购买、编程和安装工业自动化系统。该工作流程经常导致项目延迟或成本超支。此外,已安装的工业监视和控制系统的固有复杂性和自定义性质可以使工业资产的所有者(例如,工厂所有者或工业企业实体)难以管理其OT级系统,并且难以保护其自主知识产权免受灾难性故障或网络攻击。
发明内容
下面呈现简化的概要,以提供对本文中所描述的一些方面的基本理解。该概要既不是广泛的综述,也不旨在标识关键的/决定性的要素或描绘本文中所描述的各个方面的范围。该概述的唯一目的是以简化的形式呈现一些概念作为后面呈现的具体实施方式的序言。
在一个或更多个实施方式中,提供了用于分析工业控制项目的系统,其包括:用户接口组件,其被配置成通过云平台从客户端设备接收工业控制项目,该工业控制项目至少包括控制编程和设备配置数据,所述控制编程和设备配置数据响应于在一个或更多个工业设备上的执行来促进对工业自动化系统的监视和控制;项目遥测组件,其被配置成基于对工业控制项目的第一分析来生成项目遥测数据,项目遥测数据定义了一个或更多个工业设备的特性以及基于第一分析推断出的工业控制项目的预测操作特性;以及项目分析组件,其被配置成:对项目遥测数据执行第二分析,并基于第二分析的结果生成建议,该建议用于以改进预测操作特性中的一个或更多个的方式来修改工业控制项目,其中,用户接口组件被配置成在客户端设备上呈现该建议。
此外,一个或更多个实施方式提供了用于分析工业控制项目的方法,包括:由包括处理器的系统通过云平台接收至少包括控制编程和设备配置数据的工业控制项目,控制编程和设备配置数据响应于在一个或更多个工业设备上的执行来促进对工业自动化系统的监视和控制;由系统基于对工业控制项目的第一分析生成项目遥测数据,项目遥测数据定义了一个或更多个工业设备的特性以及基于第一分析推断出的工业控制项目的预测操作特性;由系统基于对项目遥测数据执行的第二分析生成建议,该建议用于以改进预测操作特性中的一个或更多个的方式来修改工业控制项目;以及由系统在客户端设备上呈现该建议。
此外,根据一个或更多个实施方式,提供了一种其上存储有指令的非暂态计算机可读介质,所述指令响应于执行而使在云平台上执行并且包括处理器的系统执行操作,所述操作包括:通过云平台接收至少包括控制编程和设备配置数据的工业控制项目,控制编程和设备配置数据响应于在一个或更多个工业设备上的执行来促进对工业自动化系统的监视和控制;基于对工业控制项目的第一分析生成项目遥测数据,项目遥测数据定义了一个或更多个工业设备的特性以及基于第一分析推断出的工业控制项目的预测操作特性;基于对项目遥测数据执行的第二分析生成建议,该建议用于以改进预测操作特性中的一个或更多个的方式来修改工业控制项目;以及在客户端设备上呈现该建议。
为了实现上述目的及相关目的,本文中结合以下描述和附图对某些说明性方面进行了描述。这些方面指示可以实践的各种方式,所有这些方式均旨在被涵盖在本文中。当结合附图考虑时,其他优点和新颖特征可以根据以下详细描述变得明显。
附图说明
图1是示例工业控制环境的框图。
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