[发明专利]一种试卷分析方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种试卷分析方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括:构建试题评价维度表；获取考生对试题和试卷的主观评价信息；将所述主观评价信息填充进所述试题评价维度表；对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量；根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果。本发明结合了考生对试卷的主观评价，以及考生考试成绩的客观评价，能够得到更准确的试卷分析结果，可广泛应用于数据分析技术领域。

技术领域

本发明涉及数据分析技术领域，尤其是一种试卷分析方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着参加各种各样的考试的人越来越多，不同的试卷内容也越来越多。因此，如何合理考虑难度、考查范围、题量等多方面因素来设置试卷，对命题工作者和考生来说就变得尤为重要。但目前教育相关工作研究者对考卷的评价侧重分析基于成绩的客观分析，缺少基于考生对试题主观评价的分析，无法准确衡量一份试卷的各方面质量。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种试卷分析方法、装置、电子设备及存储介质，以结合考生的主观评价与考生的客观成绩，得到更准确的试卷分析结果。

本发明的一方面提供了一种试卷分析方法，包括：

构建试题评价维度表；

获取考生对试题和试卷的主观评价信息；

将所述主观评价信息填充进所述试题评价维度表；

对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量；

根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果。

可选地，所述构建试题评价维度表，包括：

确定试题的评价维度的数量和试卷的评价维度数量；

根据所述试题的评价维度的数量和试卷的评价维度数量，构建试题评价维度表；

其中，所述试题的评价维度包括难易程度、常见程度、考核能力、考查范围以及耗时程度；

所述试卷的评价维度包括难度分布、知识覆盖、创新程度、题型设置以及题量控制。

可选地，所述对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量，包括：

对所述试题评价维度表中的试题评价数据进行第一向量化处理，得到各个试题的评价数据向量；

根据所述试题评价维度表中的试卷评价数据以及所述各个试题的评价数据向量，进行第二向量化处理，得到试卷的评价数据向量；

所述试卷的评价数据向量的计算公式为：

其中，S表示试卷的总分；ω_i表示第i题的分值；v_i表示第i题的评价数据向量；v₀′表示整张试卷的评价数据向量。

可选地，所述根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果，包括：

将所述各个试题的评价数据向量与所述试卷的评价数据向量进行对比，确定所述各个试题的评价数据向量与所述试卷的评价数据向量之间的偏差值；

根据所述偏差值，确定所述评价数据向量的有效性。

可选地，所述根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果，还包括：

根据所述评价数据向量构建各个试题的雷达图和试卷的雷达图；

根据所述各个试题的雷达图和试卷的雷达图，进行数据筛选。

可选地，所述方法还包括以下步骤：