[发明专利]一种试卷分析方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种试卷分析方法，其特征在于，包括：

构建试题评价维度表；

获取考生对试题和试卷的主观评价信息；

将所述主观评价信息填充进所述试题评价维度表；

对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量；

根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果；

所述对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量，包括：

对所述试题评价维度表中的试题评价数据进行第一向量化处理，得到各个试题的评价数据向量；

根据所述试题评价维度表中的试卷评价数据以及所述各个试题的评价数据向量，进行第二向量化处理，得到试卷的评价数据向量；

所述试卷的评价数据向量的计算公式为：

其中，S表示试卷的总分；ω_i表示第i题的分值；v_i表示第i题的评价数据向量；v₀′表示整张试卷的评价数据向量；

所述根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果，包括：

将所述各个试题的评价数据向量与所述试卷的评价数据向量进行对比，确定所述各个试题的评价数据向量与所述试卷的评价数据向量之间的偏差值；

根据所述偏差值，确定所述评价数据向量的有效性。

2.根据权利要求1所述的试卷分析方法，其特征在于，所述构建试题评价维度表，包括：

确定试题的评价维度的数量和试卷的评价维度数量；

根据所述试题的评价维度的数量和试卷的评价维度数量，构建试题评价维度表；

其中，所述试题的评价维度包括难易程度、常见程度、考核能力、考查范围以及耗时程度；

所述试卷的评价维度包括难度分布、知识覆盖、创新程度、题型设置以及题量控制。

3.根据权利要求1所述的试卷分析方法，其特征在于，所述根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果，还包括：

根据所述评价数据向量构建各个试题的雷达图和试卷的雷达图；

根据所述各个试题的雷达图和试卷的雷达图，进行数据筛选。

4.根据权利要求3所述的试卷分析方法，其特征在于，所述方法还包括以下步骤：

计算所述各个试题的评价数据向量的第一元素之和；

计算所述试卷的评价数据向量的第二元素之和；

根据所述第一元素之和与所述第二元素之和之间的差值，确定所述偏差值；

其中，所述第一元素之和的计算公式为：

其中，x代表第一元素之和；x_i代表第i个试题的评价数据向量；N代表试题的题目总数。

5.一种试卷分析装置，其特征在于，包括：

第一模块，用于构建试题评价维度表；

第二模块，用于获取考生对试题和试卷的主观评价信息；

第三模块，用于将所述主观评价信息填充进所述试题评价维度表；

第四模块，用于对所述试题评价维度表中的数据进行向量化处理，得到评价数据向量；

第五模块，用于根据所述评价数据向量，确定试卷的分析结果；

所述第四模块具体用于：

对所述试题评价维度表中的试题评价数据进行第一向量化处理，得到各个试题的评价数据向量；

根据所述试题评价维度表中的试卷评价数据以及所述各个试题的评价数据向量，进行第二向量化处理，得到试卷的评价数据向量；

所述试卷的评价数据向量的计算公式为：

其中，S表示试卷的总分；ω_i表示第i题的分值；v_i表示第i题的评价数据向量；v₀′表示整张试卷的评价数据向量；

所述第五模块具体用于：

将所述各个试题的评价数据向量与所述试卷的评价数据向量进行对比，确定所述各个试题的评价数据向量与所述试卷的评价数据向量之间的偏差值；

根据所述偏差值，确定所述评价数据向量的有效性。

6.一种电子设备，其特征在于，包括处理器以及存储器；

所述存储器用于存储程序；

所述处理器执行所述程序实现如权利要求1-4中任一项所述的方法。

7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有程序，所述程序被处理器执行实现如权利要求1-4中任一项所述的方法。