[发明专利]磁盘装置以及磁盘装置的控制方法

说明书

实施方式提供一种磁盘装置及其控制方法，即使是在登记了缺陷信息的区域以外的区域存在微小缺陷的情况下，也能够对由该微小缺陷引起的数据的读错误进行抑制。实施方式的磁盘装置具备：磁盘；头，对磁盘写入数据，从磁盘读出数据；以及控制器，根据与磁盘的预定记录区域对应的数据的写入次数，暂时读出在预定记录区域写入的数据，将所读出的数据重写到所述预定记录区域。控制器基于磁盘的记录面中是否存在缺陷，对写入次数的相加值进行调整。

本申请享受以日本特许申请2020-149251号(申请日：2020年9月4日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。

技术领域

本发明的实施方式涉及磁盘装置以及该磁盘的控制方法。

背景技术

在搭载于磁盘装置的盘的表面(记录面)存在微小的伤痕(凹部)和/或溅射薄片(sputter flakes)等微小突起(凸部)等缺陷。这些缺陷成为给对于盘的数据的正常写入、读出造成障碍的主要原因，另外，也成为使头损伤的主要原因。因此，在磁盘装置中，缺陷的所处位置被预先作为缺陷信息进行了登记。对于被登记为存在缺陷的区域，例如通过不对该区域分配LBA(Logical Block Addressing：逻辑块地址)而被从盘的记录区域中排除。对于盘表面的缺陷的所处位置，例如通过在对盘写入了数据之后进行读出并对这些数据的差异进行检测的音调(tone)扫描法、使用了HDI(Head Disk Interface，头盘界面)传感器的扫描方法、使用了相邻写入的扫描方法等来进行检测。

在使用了相邻写入的方法中，通过对预定磁道的相邻磁道写入数据，在助长了来自预定磁道的数据的读错误的状态下查出缺陷。因此，在使用了相邻写入的方法中，相邻写入次数、也即是相邻磁道的写入次数越多，缺陷的检测精度越提高。另一方面，若相邻写入次数变多，则检测时间会相应地变长，实现性会降低。因此，根据相邻写入的执行次数，有可能会在登记了缺陷信息的区域以外的区域存在微小缺陷，例如没有被登记为缺陷信息的微小伤痕(轻微伤痕)等。

存在这样的微小缺陷的扇区在一次的数据写入中达不到读错误，但当相邻写入的次数变多时，则有可能会比没有伤痕的扇区更早地成为读错误。

发明内容

本发明的实施方式在于提供一种磁盘装置以及该磁盘的控制方法，即使是在登记了缺陷信息的区域以外的区域存在了轻微伤痕等微小缺陷的情况下，也能够对因该微小缺陷而数据成为读错误进行抑制。

实施方式的磁盘装置具备：磁盘；头，其对所述磁盘写入数据，从所述磁盘读出数据；以及控制器，其根据与所述磁盘的预定记录区域对应的数据的写入次数，暂时读出在所述预定记录区域写入的数据，将所读出的数据重写到所述预定记录区域。所述控制器基于所述磁盘的记录面中是否存在缺陷，对所述写入次数的相加值进行调整。

附图说明

图1是表示实施方式涉及的磁盘装置的概略构成的框图。

图2是概略地表示在实施方式涉及的磁盘装置的盘的记录面上缺陷沿着半径方向连续的情况下的通常记录区域、Plist区域、Plist周边区域的设定的一个例子的图。

图3是概略地表示在实施方式涉及的磁盘装置的盘的记录面上缺陷沿着相对于半径方向倾斜的方向连续的情况下的通常记录区域、Plist区域、Plist周边区域的设定的一个例子的图。

图4是表示实施方式涉及的磁盘装置中，对于包含具有深的伤痕来作为缺陷的扇区的磁道的写次数与错误率的关系的图。

图5是表示实施方式涉及的磁盘装置中，对于包含具有极浅的伤痕来作为缺陷的扇区的磁道的写次数与错误率的关系的图。

图6是表示实施方式涉及的磁盘装置中，对于仅具有不存在缺陷的适当的扇区的磁道的写次数与错误率的关系的图。

图7是表示实施方式涉及的磁盘装置中，在进行刷新处理时系统控制器所执行的控制的流程图。