[发明专利]一种用于快速测量光纤传感器阵列的测量装置与方法在审
| 申请号： | 202110675794.1 | 申请日： | 2021-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN113281018A | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 李彦明;李宜宁;陈剑;唐靖;王敏哲;袁燕飞;杨元旭;熊婷婷;李洋 | 申请（专利权）人： | 上海传输线研究所（中国电子科技集团公司第二十三研究所） |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01H9/00 |
| 代理公司： | 上海市嘉华律师事务所 31285 | 代理人： | 黄琮;夏烨 |
| 地址： | 200437 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 快速 测量 光纤 传感器 阵列 装置 方法 | ||
1.一种用于快速测量光纤传感器阵列的测量装置，其特征在于：包括可谐调波长光源(1)，所述可谐调波长光源(1)与1*M路光开关连接，待测光纤传感器(3)接入所述1*M路光开关的另一端，所述待测光纤传感器(3)同时接入若干1*N路光开关，所述若干1*N路光开关分接接入若干PD光电转换，若干PD光电转换同时接入示波器与显控端电脑(12)，其中M大于等于N。
2.根据权利要求1所述的一种用于快速测量光纤传感器阵列的测量装置，其特征在于：所述可谐调波长光源(1)发出的光波长范围为1537.40nm～1561.42nm。
3.根据权利要求1所述的一种用于快速测量光纤传感器阵列的测量装置，其特征在于：M为16，N为4。
4.根据权利要求1所述的一种用于快速测量光纤传感器阵列的测量装置，其特征在于：所述PD光电转换的材料为InGaAs半导体，其作用是将一定波长范围的输入光信号转化为与其功率线性相关的电流信号。
5.一种使用权利要求1-4任一所述的快速测量光纤传感器阵列的测量装置的测量方法，其特征在于：包括以下步骤，
步骤1：所述可谐调波长光源(1)发出光脉冲信号，并用光跳线导出；
步骤2：所述可谐调波长光源(1)的信号被光跳线导出后，通过1*M路光开关，分别进入待测光纤传感器(3)，1*M路光开关通过时分复用方式将所述可谐调波长光源(1)的信号分别输出到M路法兰上；
步骤3：将M路出光法兰分为N组各自进入一个1*N路光开关，进入1*N路光开关后依次进入若干PD光电转换；
步骤4：光信号经所述PD光电转换转换成的电信号经SMA接口，转接到示波器和显控端电脑12的BNC接口采样，所述示波器和显控端电脑12有总共若干通道采集的数据用网线或者串口传输进电脑，每个通道可包含M个时分脉冲，按HX 13023-2020中附录B处理得出所述待测光纤传感器(3)的光路损耗，按时分复用方法，空分、时分的通道数据可全部依次处理完毕；
步骤5：改变可变谐调波长光源(1)发出的光的频率或波长，以便测量所述待测光纤传感器(3)多个波分的光路损耗。
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