[发明专利]具有条状弹性体的短互连组件

说明书

一种电接触组件，所述电接触组件针对单独接触中的每一行使用弹性体条。每个电接触包括带一对臂的刚性底部引脚和柔性顶部引脚，所述一对臂在底部接触的已倾斜表面上方延伸并沿着该已倾斜表面滑动。该弹性体条位于该底部引脚与该顶部引脚的行之间。底部插座壳体设置有容纳每个弹性体条的凹槽。接着将顶部引脚行放置在每个弹性体条上方，并穿过该底部插座壳体中的导管，然后底部引脚被卡入到该对臂之间的位置中。

技术领域

本发明涉及一种集成电路(IC)测试装置，更具体地说，涉及一种具有弹 性体条的集成电路(IC)测试装置。

背景技术

一种集成电路(IC)器件测试装置，用于评估IC器件的性能，并从进一步 的生产中去除那些有故障的IC器件。对于IC器件的引线与测试装置的引线之 间的有效电连接，存在许多解决方案，这些方案被称为互连组件。其中一种类 型的互连组件是用于测试球状矩阵排列(BGA)器件的矩阵型，并且其允许测试 在其整个表面的任何部分上方具有引线的IC器件。此矩阵型的互连组件必须将 电接触引脚布置成矩阵，这与仅在IC器件的外边缘处相反。最好以一种更容易 的方式定制电接触引脚，从而可以测试IC器件的多种配置。

美国专利第US 9,817,026号(爱德华兹(Edwards)等人)公开了这样一 种互连组件，该互连组件采用电接触引脚矩阵以用于被测试的IC器件与测试装 置之间的电连接。由爱德华兹等人公开的互连组件存在的一个问题是，上引脚 22和下引脚62仅通过来自周围蜂窝形弹性体80的收缩力保持彼此接触。此设 计需要将弹性体抵靠移动引脚的所有侧面按压，这在测试期间会在弹性体与引 脚之间生成摩擦。当IC器件和测试装置彼此分离时，此摩擦可能导致上引脚被 卡住，并且因此延迟其向上缩回。由于一个小时存在成千上万个测试周期，因 此引脚移动的任何延迟都是不期望的。

此外，橡胶蜂窝随着时间的推移失去弹性，并且导致引脚上的夹紧力减小， 从而降低了上引脚与下引脚之间的接触质量。这增加了接触失败的几率。

此设计的另一个问题是不能维持测试环境的温度。在IC器件上进行的一种 类型的测试叫做三温测试，该测试在三个不同温度的测试环境中进行，温度大 致为-40℃，环境温度和150℃。为了将测试环境维持在此温度，空气被加热或 冷却至所期望的测试温度，并在测试环境中循环。互连组件周围的气流使其达 到所期望的测试温度。在爱德华等人的设计中，弹性体所采取的绝对体积和形 状限制了互连组件周围的空气循环，因此很难将互连组件维持在所期望的温度。

爱德华兹等人采用片型弹性体的互连组件的另一问题是，弹性体片材的任 何翘曲都可能导致跨矩阵的不同的弹性体压缩，从而导致共面性问题。BGA器件 需要共面性来最好地控制和吸收球高度变化。片材弹性体的另一缺点是需要在 互连组件的安装或重建期间处理整个弹性体片材。更糟糕的是，在这些安装工 艺和重建工艺期间，弹性体片材也易于撕裂。将弹性体片材切割成适用于引脚 槽的特定斜度和尺寸是一个复杂的工艺，会导致许多废弃的弹性体片材的产生。

如爱德华兹等人公开的片材型弹性体设计等片材型弹性体设计在测试期间 也会遭受高频信号损失。

本领域所需要的是一种互连组件，该互连组件能够消除或减少前文提到的 弹性体与引脚之间的摩擦、电接触质量随时间推移的损失以及在三温度测试期 间维持互连组件温度的困难等缺点。

发明内容

本发明寻求通过提供一种电互连组件来克服上述缺点，所述电互连组件对 每行单独的接触使用弹性体条。每个接触包括带一对臂的刚性底部引脚和柔性 顶部引脚，所述一对臂在底部接触的已倾斜表面上方延伸并沿着该已倾斜表面 滑动。所述弹性体条位于所述底部引脚与所述顶部引脚的行之间。底部插座壳 体设置有容纳每个弹性体条的凹槽。然后将顶部引脚行放置在每个弹性体条上 方，并穿过所述底部插座壳体中的导管。然后，底部引脚被卡入到所述一对臂 之间的位置中。