[发明专利]具有条状弹性体的短互连组件

权利要求书

1.一种在集成电路器件测试装置中使用的电接触，其特征在于，包括：

底部插座壳体(40)，所述底部插座壳体具有多个相对于彼此并联运行的凹槽(42)，所述凹槽位于所述底部插座壳体(40)的上侧(46)，以及多个导管(44)，所述多个导管(44)从所述底部插座壳体(40)的所述上侧(46)刺穿至下侧(48)，所述多个导管(44)沿着每个所述凹槽(42)间隔开；

多个底部行，每个所述底部行包括多个刚性底部引脚(10)，每个所述底部引脚(10)具有两个朝向彼此倾斜的平面表面(12)和平面表面(14)，每个所述底部引脚具有上端(16)，每个所述底部引脚(10)能够穿过每个所述导管(44)插入，并且每个所述底部引脚(10)由导电材料制成；

多个顶部行，每个所述顶部行包括多个柔性顶部引脚(20)，每个所述顶部引脚(20)具有在所述底部引脚(10)上方延伸的第一臂(22)和第二臂(24)，所述第一臂(22)和第二臂(24)具有向内的偏置，使得每个所述臂的内表面(23)和内表面(25)被按压以与每个所述平面表面(12)和平面表面(14)接触，所述臂第一臂(22)和第二臂(24)在所述顶部引脚(20)的分叉(26)处接合，所述顶部引脚(20)由导电材料制成，并且每个所述顶部行与每个所述底部行对齐；以及

多个弹性体条(30)，每个所述弹性体条(30)沿着每个所述底部行和顶部行的长度运行，所述弹性体条(30)位于每个底部行中的所述多个底部引脚(10)的所述上端(16)与每个顶部行中的所述多个顶部引脚(20)的所述分叉(26)之间，

其中在集成电路器件的测试期间，所述器件被降低至所述顶部引脚(20)上，从而将其向下推进并压缩所述弹性体条(30)的至少一部分，同时当所述第一臂(22)和第二臂(24)沿着所述倾斜平面表面(12)和平面表面(14)向下滑动时展开所述第一臂(22)和第二臂(24)。

2.根据权利要求1所述的在集成电路器件测试装置中使用的电接触，其特征在于，其中所述弹性体条(30)的顶部(32)能够适配紧贴至每个所述分叉(26)中。

3.根据权利要求1所述的在集成电路器件测试装置中使用的电接触，其特征在于，其中所述顶部引脚(20)具有与IC器件接触的顶部部分(28)，所述顶部部分(28)比所述第一臂(22)和第二臂(24)窄。

4.根据权利要求3所述的在集成电路器件测试装置中使用的点接触，其特征在于，进一步包括顶部插座壳体(50)，所述顶部插座壳体具有多个相对于彼此并联运行的凹槽(52)，所述凹槽位于所述顶部插座壳体(50)的下侧(56)，以及多个导管(54)，所述多个导管从所述顶部插座壳体(50)的所述下侧(56)刺穿至上侧(58)，所述多个导管(54)沿着每个所述凹槽(52)间隔开，每个所述凹槽(52)能够容纳每个所述顶部行。

5.根据权利要求4所述的在集成电路器件测试装置中使用的电接触，其特征在于，其中每个所述导管(54)能够使所述顶部部分(28)穿过其插入。

6.根据权利要求4所述的在集成电路器件测试装置中使用的电接触，其特征在于，其中每个所述导管(54)大到足以使所述顶部部分(28)穿过其插入，但是没有大到足以使所述第一臂(22)和第二臂(24)穿过它。