[发明专利]一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器在审

专利信息
申请号: 202110622313.0 申请日: 2021-06-04
公开(公告)号: CN113484547A 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 姬煜 申请(专利权)人: 江苏振宁半导体研究院有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R27/02
代理公司: 北京棘龙知识产权代理有限公司 11740 代理人: 谢静
地址: 221000 江苏省徐州市邳州市经济开发*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测量 电子元件 电阻 特性 电子测量仪器
【说明书】:

发明公开了一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器,属于电子测量仪器技术领域。一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器,包括检测箱和设置在测量电路内的检测元件,还包括:温度传感器,设置在检测箱内;放置板,连接在检测箱内;电子元件本体,放置在放置板顶部;夹紧机构,设置在放置板的顶部;自动连接机构,设置在夹紧机构内,用于将电子元件本体连接到测量电路内;加热箱,设置在检测箱内;加热丝,连接在加热箱内;电机,连接在加热箱的侧壁;本发明可在对电子元件进行固定的过程中,将电子元件自动接入到测量电路内,操作方便,提高了测量的效率,同时可以清理电子元件上的灰尘,提高测量结果的准确率。

技术领域

本发明涉及电子测量仪器技术领域,尤其涉及一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器。

背景技术

电子元件是电子电路中的基本元素,通常是个别封装,并具有两个或以上的引线或金属接点,电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路,例如:放大器、无线电接收机、振荡器等,电阻是电子元件的核心参数之一,电阻主要受到材质、温度等因素的影响,为了测量电子元件的电阻特性,判断出电子元件是否符合质量要求,需要使用电子测量仪器。

现有的用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器在测量前需要对待测量的电子元件进行固定处理,同时还需要工作人员手动将电子元件连接在测量电路内,操作繁琐,影响测量工作的效率,同时电子元件上可能残留灰尘,容易影响测量结果的准确性。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中的测量仪器在使用的时候操作繁琐、影响测量工作的效率的问题和电子元件上可能残留灰尘,影响测量结果的准确性的问题,而提出的一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器。

为了实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:一种用于测量电子元件电阻特性的电子测量仪器,包括检测箱和设置在测量电路内的检测元件,还包括:温度传感器,设置在检测箱内;放置板,连接在检测箱内;电子元件本体,放置在放置板顶部;夹紧机构,设置在放置板的顶部;自动连接机构,设置在夹紧机构内,用于将电子元件本体连接到测量电路内;加热箱,设置在检测箱内;加热丝,连接在加热箱内;电机,连接在加热箱的侧壁;抽气扇,连接在电机的输出端上;补气机构,设置在加热箱内;其中,所述电机的输出端连接有驱动补气机构的曲轴。

为了对电子元件本体进行夹紧,优选的,所述夹紧机构包括转轴和两组夹板,所述放置板的两端均固定连接有竖板,所述转轴转动连接在两组竖板之间,两组所述夹板对称的螺纹连接在转轴上,且两组所述夹板的外壁分别与电子元件本体的两侧外壁相抵。

为了在夹紧电子元件本体的同时将电子元件本体连接到测量电路内,进一步的,所述自动连接机构包括滑板、连接壳、连接板、第一磁铁、卡紧板、第二磁铁和导电片,所述滑板固定连接在夹板的侧壁,所述连接壳固定连接在滑板的侧壁,所述连接壳内设有第一滑槽和第二滑槽,所述连接板滑动连接在第一滑槽内,所述第二滑槽内固定连接有导向杆,所述卡紧板与导向杆滑动相连,所述电子元件本体的两端均设有导电柱,在所述的连接壳向所述的电子元件本体靠近时,所述的导电柱向所述的连接板靠近并可推动所述的连接板,所述第一磁铁固定连接在连接板上,所述第二磁铁固定连接在卡紧板上,所述导电片设置在卡紧板的侧壁,且所述导电柱与导电片相贴。

为了在将电子元件本体连接到测量电路内时对电子元件本体外壁进行清理,更进一步的,在所述的连接壳向所述的电子元件本体靠近时,所述的导电柱向驱动板靠近并可推动所述的驱动板,所述连接壳内转动连接有第一连接轴和第二连接轴,所述第一连接轴上固定连接有第一齿轮,所述第二连接轴上固定连接有第二齿轮,所述驱动板上设与与第一齿轮啮合相连的第一齿条,所述第一连接轴和第二连接轴之间连接有锥齿轮组,所述连接壳内转动连接有与导电柱位置对应的套环,所述套环的外壁设有与第二齿轮相啮合的第二齿条,所述套环内壁设有毛刷。

为了使滑板能够灵活滑动,更进一步的,所述放置板上设有运动槽,所述运动槽内固定连接有圆杆,所述滑板滑动连接圆杆上。

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