[发明专利]电解电容可靠性的检测方法

说明书

本发明公开了一种电解电容可靠性的检测方法，步骤1，将待检测电容的检测区域的温度设置为待检测电容对应的上限类别温度；对待检测电容进行通电试验；步骤2，持续预设时间后，判断待检测电容状态。将执行步骤1方案作为第一方案；在所述步骤1中所述检测区域内通入含氯的腐蚀性气体的方案作为第二方案，采用任意顺序执行两种方案持续其对应的预设时间至少一次，再判断待检测电容状态。本发明通过不同实验方案组合可以快速有效筛选电解电容密封不良导致氯离子入侵内部的早期失效不良。提高电解电容重大早期失效质量缺陷的筛选不良检出率，降低产线封存返包及售后投诉故障率。且能有效筛选密封不良现象，能够在短期内进行评估产品可靠性。

技术领域

本发明涉及检测测试领域，特别是涉及一种电解电容可靠性的检测方法。

背景技术

铝电解电容以其容量大、体积小、价格低等优点已被广泛应用于各种电子线路中，随着国内大屏幕彩电、变频家电（如变频空调）的普遍应用和电子元器件的国产化，对铝电解电容，特别是中、高压铝电解电容的质量和可靠性的要求愈来愈高。尤其是大屏幕彩电中所用的中、高压（160V—450V）铝电解电容主要用于开关电源部分（备注：主要用于电源电路，有储能、滤波、旁路、去耦作用），作整流后滤波，它的质量好坏直接影响到整机的性能，是线路中的关键元件。但现有的电解电容的检测筛选手段效率较低。

发明内容

本发明为了解决上述现有技术中电解电容测试效率低的技术问题，提出一种电解电容可靠性的检测方法。

本发明采用的技术方案是：

本发明提出了一种电解电容可靠性的检测方法，包括步骤：

步骤1，将待检测电容的检测区域的温度设置为待检测电容对应的工作上限温度；对待检测电容进行通电试验；

步骤2，持续预设时间后，判断待检测电容状态。

在第二实施例中，步骤1还包括所述检测区域内通入含氯的腐蚀性气体。

具体的执行方案包括：将执行步骤1方案作为第一方案；在所述步骤1中所述检测区域内通入含氯的腐蚀性气体的方案作为第二方案，采用任意顺序执行两种方案持续其对应的预设时间至少一次，再判断待检测电容状态。

所述待检测电容通电试验的试验电压采用与额定纹波电流频率相同的正弦交流电压叠加额定直流电压。

优选地，腐蚀性气体为二氯甲烷气体。

进一步的，预设时间小于或等于12小时。

判断待检测电容状态的方法为：测试待检测电容的各项参数，判断各项参数是否在预设参数范围内，若否，待检测电容失效。

测试待检测电容的各项参数后，解剖待检测电容，测量待检测电容的电极箔与引出箔之间的接触电阻以及电极箔耐压值，判断电极箔与引出箔之间的接触电阻以及电极箔耐压值是否在对应的预设参数范围内。

第二实施例中判断待检测电容状态的方法还可以为：判断待检测电容的漏电电流值是否超出预设标准值，若是，判断该待检测电容的内部发生腐蚀，再解剖确认是否发生氯离子腐蚀。

测试待检测电容的各项参数具体包括：电容容值、漏电电流值、ESR值。

与现有技术比较，本发明通过不同实验方案组合可以快速有效筛选电解电容密封不良导致氯离子入侵内部的早期失效不良。提高电解电容重大早期失效质量缺陷的筛选不良检出率，降低产线封存返包及售后投诉故障率。

能有效筛选密封不良现象，能够在短期内进行评估产品可靠性，且内部含有氯离子产品的铝电解电容在通电后，通过电化学反应，能尽快发现不良产品。

附图说明