[发明专利]微电爆炸相变状态检测装置

说明书

本发明公开了一种微电爆炸相变状态检测装置，包括具有中空腔室的支撑体，所述中空腔室内安装有爆炸箔，所述支撑体上安装有第一微孔金属板和第二微孔金属板，所述支撑体在远离第一微孔金属板的一端依次设有第一铍窗和第一X射线相机，所述第一微孔金属板、爆炸箔、第一铍窗和第一X射线相机位于同一方向上，所述支撑体在远离第二微孔金属板的一端依次设有第二铍窗和第二X射线相机，所述爆炸箔相对于第二微孔金属板与第二X射线相机之间的连线偏移设置。本发明的有益效果是：能够同时检测微电起爆过程中瞬态的晶体结构和材料密度以及空间分布状态参数。

技术领域

本发明涉及电爆炸技术领域，具体涉及一种微电爆炸相变状态检测装置。

背景技术

微电爆炸中材料的相变状态及其演化过程是起爆器设计关注的重要物理过程。由于相变过程是瞬态过程，需要对其进行超快测量。电起爆过程中发生相变的起始时刻有两个重要特征，其一是材料的晶体结构发生显著改变，其二是材料的密度及其空间分布尚未发生较大变化。

因此，精确检测微电爆炸中的相变状态，需要同时检测起爆点的瞬态晶体结构变化和材料密度以及空间分布状态。在现有检测装置中，只能对晶体结构或材料密度以及空间分布中的任一特征进行检测，无法实现两个特征的同时检测。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种微电爆炸相变状态检测装置，以解决现有装置不能同时对两个特征进行检测的技术问题。

为实现上述目的，本发明技术方案如下：

一种微电爆炸相变状态检测装置，其关键在于：包括具有中空腔室的支撑体，所述中空腔室内安装有爆炸箔，所述支撑体上安装有第一微孔金属板和第二微孔金属板，所述支撑体在远离第一微孔金属板的一端依次设有第一铍窗和第一X射线相机，所述第一微孔金属板、爆炸箔、第一铍窗和第一X射线相机位于同一方向上，所述支撑体在远离第二微孔金属板的一端依次设有第二铍窗和第二X射线相机，所述爆炸箔相对于第二微孔金属板与第二X射线相机之间的连线偏移设置。

采用上述结构，第一微孔金属板受辐照产生的X射线用于爆炸箔的透射成像，获取微电爆炸时刻的材料密度以及空间分布状态图像，第二微孔金属板产生的X射线用于检测爆炸箔的X射线衍射光谱，获取微电爆炸时刻材料的晶体结构参数，通过这两个特征量的测量可以精确判断微电爆炸的相变状态。

作为优选：所述支撑体的截面为矩形框结构，所述第一微孔金属板、第二微孔金属板、第一铍窗和第二铍窗沿支撑体的四周依次设置。

作为优选：所述第一微孔金属板和第二微孔金属板均包括由内至外依次设置的金属膜、金属板和衬底板，其中，所述金属板和衬底板上分别设有第一过孔和第二过孔，第二过孔的孔径大于第一过孔的孔径。采用上述结构微孔金属板设计成大孔套小孔的结构，有助于获取微点X射线发射效果。

作为优选：所述中空腔室内设有移动支架，爆炸箔安装在移动支架上，移动支架能够沿第一微孔金属板与第一铍窗的连线方向滑动。所述移动支架包括滑轨和安装在滑轨上的支撑板，所述支撑板上设有安装槽，所述爆炸箔固定在安装槽内。采用上述结构，能够获取不同衍射角度的X射线衍射数据和不同倍率的X射线的透射图像。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1、能够同时检测微电起爆过程中瞬态的晶体结构和材料密度以及空间分布状态参数，通过对两个特征量的测量则可以精确判断微电爆炸的相变状态。

2、能够获取不同衍射角度的X射线衍射数据和不同倍率的X射线的透射图像。

附图说明

图1为微电爆炸相变状态检测装置的结构示意图；

图2为第一微孔金属板和第二微孔金属板的结构示意图；

图3为移动支架的结构示意图。

具体实施方式