[发明专利]评估测量数据样本或准备对其的评估的方法和布置

说明书

本发明涉及用于评估通过测量多个工件而产生的测量数据样本的方法和布置，其中，存在或建立了统计分布系统，其能够描述随测量数据值而变的测量数据值的频率，该统计分布系统的示例按照相应统计分布的两个具体是偏度和峰度的矩的相应一个矩值可彼此区分开，其中‑从统计分布系统中定义所有能够描述整个值区间中的测量数据值的频率的统计分布的集合，值区间是样本中实际出现的测量数据的指定值区间或一个值区间，‑根据与第一统计分布相对应的测量数据样本确定偏度和峰度的相应矩值，‑确定的矩值用于检验定义的集合是否包含具有确定的偏度和峰度的矩值的统计分布，并产生对应的测试结果。本发明还涉及用于准备对测量数据样本的评估的方法和布置。

技术领域

本发明涉及一种用于评估通过测量多个工件而产生的测量数据样本或准备其评估的方法和布置。

背景技术

从用于生产和/或加工工件以及工件布置的过程质量控制领域中已知统计过程控制的概念。通过过程的统计建模，可以获得统计分布，基于统计分布，特别是可以做出关于从过程中生成的某些测量值的频率的说明。举例来说，过程可控制可以是统计建模的结果。由于统计建模，如果测量值的方差较小，还可以确定或者可以替代地确定过程的质量符合规格。

通常，借助于使用基于过程知识和基于所获得的测量数据的评估的信息来创建这样的统计模型。举例来说，在测量工件的半径时，已知过程可通过正态分布来加以描述。在这种情况下，通过测量多个相同类型的工件产生的测量值围绕预期值随机散布。正态分布允许特别是根据其确定参数，例如方差。

使用正态分布不可能明显地描述每个过程的结果。相反，存在其他对随测量值而变的测量变量的测量值的频率进行描述的统计分布。与正态分布的情况不同，这些分布特别是仅适合于对在一侧或两侧受限制的值区间内的测量值的统计描述。这种分布没有将频率分配给值区间之外的值和/或值区间之外的值的频率和因此概率被设置为零值。

举例来说，皮尔逊分布系统是具有多个已知且经常使用的统计分布的系统。如果测量值现在可使用测量数据样本，则可以选择分布系统的统计分布之一并将所述统计分布用于统计建模。这基于以下基本构思：仅根据可用数据的信息创建分布。为了创建统计分布，可以选择不同的程序。特别地，可以遵循最大似然原理，即，最大化正确描述可用数据的统计的分布的概率。根据不同的程序，可以根据测量数据确定统计分布的所谓矩，然后可以选择与这些矩拟合的分布。在使用基于测量数据或源自测量数据的数据的分布的统计建模范围内可能出现的情况是，该分布描述在出现的或可能的值区间的大部分内的测量值的频率或源自测量值的值的频率，但值也在分布可描述的值区间之外或者也可能在该值区间之外。实际上，这是不利的，因为没有对统计分布进行最佳建模，并且用户可能会遇到不期望的情况，即出现的测量值没有落入分布的值区间内并因此对分布没有贡献或无法被分布预测。在这种情况下，存在明显的建模错误。

发明内容

本发明的目的是指定一种用于评估通过测量多个工件而产生的测量数据样本或准备对测量数据样本的评估的方法或布置，使用该方法和布置能够对测量数据进行高质量的统计建模。

该解决方案基于如下基本想法：关于第一统计分布或第一统计分布族是否适合于对指定值区间内或测量数据样本中实际出现的测量数据的值区间内的随测量数据值而变的测量数据值的频率进行描述来对这个/这些第一统计分布进行检验，通过第一统计分布可以统计地描述该样本。

为了进行检验，首先评估测量数据样本。进一步地，检验的结果随即帮助评估测量数据样本，因为不适合对在整个值区间内的样本进行建模的统计分布可能被识别为这种分布。特别地，这允许确定更适合的统计分布。

样本评估的进一步步骤，具体是确定特别适合于样本的统计建模的分布的参数，可以是用于评估样本的方法的其他组成部分。适合的统计分布表示样本评估的进一步可能结果。确定第一统计分布不适合对在测量数据的整个指定值的或实际出现的值区间内的样本进行统计建模也表示了样本评估的可能结果。