[发明专利]减轻行锤击的存储器装置和使用其的半导体系统在审

专利信息
申请号: 202110570414.8 申请日: 2021-05-25
公开(公告)号: CN114464224A 公开(公告)日: 2022-05-10
发明(设计)人: 郑元敬 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: G11C11/406 分类号: G11C11/406;G11C11/4063
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 许伟群;李少丹
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 减轻 行锤击 存储器 装置 使用 半导体 系统
【说明书】:

本公开涉及减轻行锤击的存储器装置和使用其的半导体系统。存储器装置可以包括行锤击控制电路。行锤击控制电路可以通过监测访问存储单元阵列的存储体的间隔来生成多个选择控制信号。行锤击装置可以基于多个选择控制信号将用于执行刷新操作的阈值设置为多个值中的一个。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2020年11月9日提交韩国知识产权局的韩国申请第10-2020-0148221号的优先权,其整体内容通过引用合并且于此。

技术领域

各实施方式总体上示例了集成电路技术,并且更具体地,描述了存储器装置和使用该存储器装置的半导体系统。

背景技术

在一些实施方式中,电子装置可以包括大量的电子部件。电子装置之中,计算机系统可以包括大量的包括多个半导体的半导体装置。该计算机系统包括可以通过发送或接收时钟和数据而彼此通信的半导体装置。半导体装置与时钟信号和选通信号同步。数据选通信号可以是与发送数据的定时同步地切换的时钟信号。因此,为了使半导体装置准确地发送和/或接收数据,重要的是使数据的定时与数据选通信号的定时相匹配。然而,由于半导体装置的各种内部因素,在数据的定时和数据选通信号的定时中可能会出现偏斜(skew)。

发明内容

在一实施方式中,一种存储器装置可以包括激活监测电路和模式寄存器电路。激活监测电路可以通过监测访问存储单元阵列的存储体的间隔来生成多个选择控制信号。模式寄存器电路可以基于多个选择控制信号将用于执行刷新操作的阈值设置为多个值中的一个。

在一实施方式中,一种存储器装置可以包括第一存储体、第二存储体和行锤击控制电路。行锤击控制电路可以设置第一阈值作为用于刷新第一存储体的参考,以及可以监测访问第一存储体的激活间隔,并被配置为通过跟踪第二存储体的访问的激活间隔而设置第二阈值作为用于刷新第二存储体的参考。

在一实施方式中,一种半导体系统可以包括存储器装置和存储器控制器,其中该存储器装置可以使用激活命令信号来跟踪激活间隔并且可以基于该激活间隔来改变阈值。然后,激活命令信号由存储器控制器生成并通过生成激活命令信号用于访问存储器装置,并被配置为通过对经由对激活命令信号的生成次数进行计数而获得的累积计数值和阈值进行比较来生成用于刷新存储器装置的刷新命令信号。

在一实施方式中,一种半导体系统可以包括存储器装置和存储器控制器。存储体位于存储器装置中。通过使用存储器控制器基于针对存储体的激活命令信号的生成次数和激活命令信号的生成间隔来生成刷新命令信号以完成刷新。存储器装置可以基于刷新命令信号对存储体执行刷新操作。

在一实施方式中,一种存储器装置可以包括激活监测电路和模式寄存器电路。激活监测电路可以通过监测访问存储单元阵列的存储体的间隔来生成多个选择控制信号。模式寄存器电路可以基于请求/阈值和多个选择控制信号来实现用于执行最小数量的刷新操作的请求/阈值。

附图说明

图1是示出根据本公开的一实施方式的半导体系统的配置的框图。

图2是示出图1所示的激活监测电路的配置的示例的框图。

图3是示出图2所示的激活时段检测电路的配置的示例的示图。

图4是示出图2所示的延迟电路的配置的示例的框图。

图5是示出图2所示的比较电路的配置的示例的框图。

图6是示出图5所示的第一比较器的配置的示例的示图。

图7是示出图1所示的模式寄存器电路的配置的示例的框图。

图8是帮助说明根据本公开的实施方式的行锤击控制电路的操作的时序图。

图9是帮助说明根据本公开的实施方式的半导体系统的操作的流程图。

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