[发明专利]一种极紫外多层膜及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110554979.7 申请日: 2021-05-21
公开(公告)号: CN113204179A 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 喻波;姚舜;邓文渊 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;C23C14/35;C23C14/06
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 魏毅宏
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 紫外 多层 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种极紫外多层膜,其特征在于,包括:依次层叠设置的基底、阻挡层及表面保护层,所述阻挡层由多个周期设置的阻挡单元构成,任意一个阻挡单元包括依次设置的Si层、第一扩散阻挡层、Mo层及第二扩散阻挡层。

2.根据权利要求1所述的极紫外多层膜,其特征在于,所述基底为Si片、熔石英、微晶玻璃或ULE材料。

3.根据权利要求1所述的极紫外多层膜,其特征在于,所述第一扩散阻挡层及所述第二扩散阻挡层为B-C-N三元化合物。

4.根据权利要求3所述的极紫外多层膜,其特征在于,所述Mo层在所述Si层上界面的扩散阻挡层厚度为0.8nm,所述Si层在Mo层上的界面的扩散阻挡层厚度为0.4nm。

5.根据权利要求4所述的极紫外多层膜,其特征在于,所述扩散阻挡层材料为B-C-N三元化合物材料。

6.根据权利要求1所述的极紫外多层膜,其特征在于,所述表面保护层材料为Ti-Al-N三元化合物材料。

7.根据权利要求6所述的极紫外多层膜,其特征在于,所述表面保护层的厚度为2~4nm。

8.根据权利要求1所述的极紫外多层膜,其特征在于,所述周期为60周期,周期厚度为7nm。

9.一种根据权利要求1至8任一项所述的极紫外多层膜的制备方法,其特征在于,包括下述步骤:

在基底上依次层叠设置阻挡层及表面保护层,所述阻挡层由多个周期设置的阻挡单元构成,任意一个阻挡单元包括依次设置的Si层、第一扩散阻挡层、Mo层及第二扩散阻挡层。

10.根据权利要求9所述的极紫外多层膜的制备方法,其特征在于,所述采用反应磁控溅射在所述基底表面沉积阻挡层,其中:溅射靶为B4C靶,反应气体为N2气。

11.根据权利要求9所述的极紫外多层膜的制备方法,其特征在于,采用磁控溅射在所述阻挡层表面沉积表面保护层,其中:溅射靶为Ti-Al合金靶,反应气体为N2气。

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