[发明专利]一种QXAFS电子学设备在审

专利信息
申请号: 202110515642.5 申请日: 2021-05-12
公开(公告)号: CN113376189A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 常劲帆;杨冯帆;章红宇;张静;储胜启;王之滨 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01N23/085 分类号: G01N23/085;G01N23/223
代理公司: 北京睿阳联合知识产权代理有限公司 11758 代理人: 王朋飞;杨生平
地址: 100049 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 qxafs 电子学 设备
【权利要求书】:

1.一种QXAFS电子学设备,其特征在于,包括:测量电路、数据采集模块、数据缓存模块、逻辑控制模块、电机控制模块和数据传输模块;

所述测量电路对QXAFS实验中X射线探测器所产生的X射线强度的电流信号进行采集和处理,所述电流信号被处理为数字信号后发送给所述数据采集模块;

所述数据采集模块将所述数字信号存储到所述数据缓存模块;所述数据缓存模块与所述逻辑控制模块连接,所述逻辑控制模块与所述数据传输模块连接;

所述电机控制模块根据指令产生电机控制信号,控制电机驱动器进行转动;

所述数据传输模块通过所述逻辑控制模块从所述数据缓存模块中获取数字信号,并传输给计算机组件;

所述逻辑控制模块控制数据采集、数据传输以及电机控制模块,使得电机转动与数据采集保持同步关系。

2.根据权利要求1所述的QXAFS电子学设备,其特征在于,所述测量电路包括四个通道;

第一通道用于采集QXAFS实验中前电离室的第一电流信号,所述前电离室的电流信号表示X射线未穿过样品之前的射线强度;

第二通道用于采集QXAFS实验中后电离室的第二电流信号,所述后电离室的电流信号表示X射线穿过样品之后的射线强度;

第三通道用于采集QXAFS实验中荧光电离室的第三电流信号,所述荧光电离室的电流信号表示样品与X射线发生相互作用后产生的X射线荧光强度;

第四通道用于采集标准样品的透射信号。

3.根据权利要求2所述的QXAFS电子学设备,其特征在于,测量电路的四个通道是通用通道,所述通用通道根据实际测量要求进行定义。

4.根据权利要求2所述的QXAFS电子学设备,其特征在于,

所述前电离室与所述第一通道之间设置有第一电流放大器,以将所述第一电流信号进行放大;

所述后电离室与所述第二通道之间设置有第二电流放大器,以将所述第二电流信号进行放大。

5.根据权利要求1所述的QXAFS电子学设备,其特征在于,所述测量电路包括数模转换模块,所述数模转化模块用于将电流信号转化为数字信号。

6.根据权利要求1所述的QXAFS电子学设备,其特征在于,还包括:命令缓存模块,所述命令缓存模块与所述逻辑控制模块连接;

所述计算机组件通过所述数据传输模块、逻辑控制模块,向所述命令缓存模块下发采谱命令;

指令以电机转动一步为基本命令,配合其他指令可以实现可编程的QXAFS采集。

7.根据权利要求1所述的QXAFS电子学设备,其特征在于,数据传输模块与所述计算机组件通过标准TCP/IP协议进行传输。

8.根据权利要求1所述的QXAFS电子学设备,其特征在于,还包括时钟模块,所述时钟模块用于统一电机驱动器发生转动的时间与采集电流信号的时间。

9.根据权利要求8所述的QXAFS电子学设备,其特征在于,包括多套电子学设备,所述多套电子学设备同时工作,所述时钟模块用于保证每个电子学设备时钟同步工作。

10.根据权利要求1所述的QXAFS电子学设备,其特征在于,所述测量电路包括四路ADC信号输入通道,每一路所述ADC信号输入通道的采样精度为16bit,采样率最高为10MHz。

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