[发明专利]测试电路、测试设备以及测试电路测试方法

权利要求书

1.一种测试电路，其特征在于，包括：

电源；

第一开关和第二开关，所述第一开关和所述第二开关依次串联于所述电源的正极和负极之间；

电感，所述电感包括第一端和第二端，所述电感的第一端连接于所述第一开关和所述第二开关之间；

二极管，所述二极管的阴极连接于所述电源的正极，所述二极管的阳极连接于所述电感的第二端；以及

测试端，所述测试端的一端与所述电感的第二端连接，所述测试端的另一端与所述电源的负极连接，所述测试端用于测试被测IGBT芯片。

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括：

第三开关，所述第三开关的一端与所述电源正极连接，所述第三开关的负极与所述二极管的负极连接。

3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述第一开关、所述第二开关和所述第三开关中的一个或多个为绝缘栅双极型晶体管。

4.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，还包括控制电路，所述控制电路分别与所述电源、所述第一开关、所述第二开关、所述第三开关以及插接于所述测试端的被测IGBT芯片连接，所述控制电路用于控制所述电源、所述第一开关、所述第二开关、所述第三开关以及插接于所述测试端的被测IGBT芯片的工作状态。

5.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述电源包括电容，所述电容的正极板作为所述电源的正极，所述电容的负极板作为所述电容的负极，所述第一开关、所述第二开关依次串联于所述电容的正极板和负极板。

6.一种测试设备，其特征在于，包括权利要求1-5任一项所述的测试电路。

7.一种测试电路的测试方法，所述测试电路包括：

电源；

第一开关和第二开关，所述第一开关、第二开关和第三开关依次串联于所述电源的正极和负极之间；

电感，所述电感包括第一端和第二端，所述第一端连接于所述第一开关和所述第二开关之间；

二极管，所述二极管的阴极连接于所述电源的正极，所述二极管的阳极连接于所述电感的第二端；以及

测试端，所述测试端的一端与所述电感的第二端连接，所述测试端的另一端与所述电源的负极连接，所述测试端用于测试被测IGBT芯片，其特征在于，所述测试方法包括：

在第一时刻控制所述第一开关导通；

在第二时刻控制所述被测IGBT芯片导通；

在第三时刻控制所述被测IGBT芯片断开；

在第四时刻控制所述被测IGBT芯片导通；

在第五时刻控制所述第一开关断开，控制所述第二开关导通，控制所述被测IGBT芯片断开；

其中，所述第一时刻、所述第二时刻、所述第三时刻、所述第四时刻、所述第五时刻依次按照时间先后排列。

8.如权利要求7所述的测试电路的测试方法，其特征在于，所述测试电路还包括第三开关，所述第三开关的一端与所述电源正极连接，所述第三开关的负极与所述二极管的负极连接，所述第三开关具有双向导通功能，所述方法包括：

在第一时刻控制所第三开关导通。

9.一种测试设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求7-8中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求7-8中任一项所述的方法的步骤。