[发明专利]一种镜片折射率测量装置及其测量方法

权利要求书

1.一种镜片折射率测量装置，包括屈光度测量模块、光学厚度测量模块、共焦反射测量模块以及被测镜片(25)，其特征在于：所述屈光度测量模块包括第一光源模组(1)、第一准直透镜(2)、哈特曼光阑片(3)以及光电探测器Cam(4)；所述光学厚度测量模块包括第二光源模组(5)、第二准直透镜(6)、第三光源模组(7)、第三准直透镜(8)、聚焦透镜(9)、第一分光片(10)、第二分光片(11)、第三分光片(12)、第四分光片(13)、反射镜(14)、光电探测器D1(15)以及光电探测器D2(16)；所述共焦反射测量模块包括发光源(17)、光电探测器D3(18)、Y型光纤(19)、透镜镜组(20)以及中孔棱镜(21)，所述Y型光纤(19)包括第一端口(22)、第二端口(23)以及第三端口(24)；

所述第一光源模组(1)发出的光经由所述第一准直透镜(2)后成为平行光束，所述平行光束经过被测镜片(25)和哈特曼光阑片(3)后射入所述第一光电探测器Cam(4)内；

所述第三光源模组(7)发出光束，依次经过第一分光片(10)透射和第二分光片(11)反射，再通过第三分光片(12)分成两束光，其中一束光反射到反射镜(14)上，再由反射镜(14)原路反射回来，一部分原路反射回来的光经过第三分光片(12)透射，再经过第四分光片(13)透射进入光电探测器D2(16)；另外一束光经过第三分光片(12)透射，再经过哈特曼光阑片(3)上表面发生原路反射，原路反射回来的光经过第三分光片(12)反射和第四分光片(13)的透射后，进入到光电探测器D2(16)；当移动反射镜(14)时，反射镜(14)在移动的过程中，当由移动反射镜(14)反射的一束光和由哈特曼光阑片(3)反射的另一束光的光程相等时，在光电探测器D2(16)内检测到干涉现象；

所述第二光源模组(5)发出的光经由所述第二准直透镜(6)后成为平行光束，平行光束经过第一分光片(10)反射和第二分光片(11)反射，再通过第三分光片(12)分成两束光，其中一束光反射到反射镜(14)上，再由反射镜(14)原路反射回来，一部分原路反射回来的光经过第三分光片(12)透射，再经过第四分光片(13)反射进入光电探测器D1(15)；另外一束光经过第三分光片(12)透射，再经过哈特曼光阑片(3)上表面发生原路反射，原路反射回来的光经过第三分光片(12)反射和第四分光片(13)的反射后，进入到光电探测器D1(15)；当移动反射镜(14)时，在移动的过程中，当由移动反射镜(14)反射的一束光和由哈特曼光阑片(3)反射的另一束光的光程相等时，在光电探测器D1(15)内检测到干涉现象；

所述Y型光纤(19)的第一端口(22)为测试出光口，发光源(17)发出的光经由第三端口(24)耦合到Y型光纤(19)中，并由第一端口(22)出射，所述第一端口(22)位于透镜镜组(20)的后焦点上，光束经过透镜镜组(20)汇聚，再由中孔棱镜(21)反射，最终在被测镜片(25)处聚焦；当移动第一端口(22)和透镜镜组(20)时，在移动的过程中，聚焦到被测镜片(25)上的光束会在被测镜片(25)的上表面或下表面聚焦，当光束在被测镜片(25)的上表面或下表面聚焦时，其表面反射光将原路返回到第一端口(22)处，再经Y型光纤(19)传播后，由第二端口(23)出射到光电探测器D3(18)上。

2.根据权利要求1所述的一种镜片折射率测量装置，其特征在于：哈特曼光阑片(3)由阵列型排布的若干透光孔(29)以及不透光区域(30)组成，所述阵列型排布的若干透光孔(29)的正中间位置的透光孔(29)上镀有反射膜(31)，所述反射膜(31)的光谱范围为400-650nm，其反射率大于80％。

3.根据权利要求2所述的一种镜片折射率测量装置，其特征在于：镀有反射膜(31)的透光孔(29)的直径范围为：0.3-1.0mm；所述透光孔(29)之间的中心距离范围为0.5-0.6mm，所述透光孔(29)数量不少于10*10个。

4.根据权利要求1所述的一种镜片折射率测量装置，其特征在于：第一光源模组(1)由第一光源和第一透光孔构成，所述第一光源为单色LED光源，其光谱宽度大于10nm且小于50nm，所述第一透光孔设置在靠近第一光源的发光面处，第一透光孔的直径小于0.5mm，所述第一透光孔和第一光源之间的距离小于0.5mm。