[发明专利]一种颗粒分析管理软件及其应用

说明书

本发明公开了一种颗粒分析管理软件，包括样品测试程序，报告程序，标准库编辑器。本发明将电子扫描显微镜与元素分析系统结合，利用扫描显微镜高分辨率成像功能结合X射线分析可以对各类样品进行元素分析，并且可以实现自动化的专业清洁度分析，采用多线程测量方式，先进的图像处理算法，不同的样品可以设置不同参数，既可以对单个颗粒分析也可以对全部颗粒进行分析，检测速度大大提高。本发明中包含了行业专家的标准库，也可以结合不同的样品自定义不同的测试标准，选取参照数据更加灵活。

技术领域

本发明涉及的是一种颗粒分析管理软件及其应用，主要应用于机电仪表产品的清洁领域。

背景技术

随着科技的发展，机电仪表产品在人类生活中的应用越来越多，机电产品在长时间的使用后会产生污渍，污渍的增多会造成机器的磨损，还有可能造成滤芯的堵塞，破损，造成排泄阀排泄机能恶化，污渍中的沉淀物会造成流量的减少，密封材料的磨损与报废，积存大量水垢会造成机器工作不可靠，因此及时清理污渍有利于延长机电产品的使用寿命，并且如果能够分析出污渍颗粒的来源，就能够进一步的优化产品的性能，在以后的使用中避免污渍的产生。

机电仪表产品的清洁度是衡量机电仪表产品的性能的一项非常重要的指标，目前现有的检测清洁度的方式对污渍颗粒的分析速率较慢，需要对单个颗粒一个个分析，并且由于检测人员的技术限制，可能会导致检测结果前后不一致。并且污渍颗粒的拍摄与元素分析是分开进行的，步骤较为繁琐。因此发明了一种颗粒分析管理软件，可以将电镜拍摄与元素分析相结合，加快了分析速率，简化了分析步骤。

发明内容

为了提高污渍颗粒的检测速率，简化检测步骤，本发明的第一个方面提供了一种颗粒分析管理软件，包括样品测试程序，报告程序，标准库编辑器。

作为一种优选的实施方式，所述样品测试程序包括样品台选取，样品与电镜对应，测量区域选取，测量参数设置，测量图像去背景，保存测量结果。

作为一种优选的实施方式，所述测量参数设置包括常规测试参数，图像扫描参数，图像处理参数，电镜工作参数。

作为一种优选的实施方式，所述图像扫描参数包括终止方式，取图方式，扫描精度，扫描尺寸。

作为一种优选的实施方式，所述图像处理参数包括颗粒尺寸大小范围，背景灰度范围，颗粒灰度范围。

作为一种优选的实施方式，所述报告程序包括元素分析情况，颗粒计算方式，数据图像分析。

作为一种优选的实施方式，所述颗粒计算方式包括颗粒的最长直径，最短直径，面积，等效圆面积，费雷特直径。

作为一种优选的实施方式，所述数据图像分析包括饼图，圈图，柱状图，线状图，堆叠图，三元相图。

作为一种优选的实施方式，所述标准库编辑器包括自定义元素分类规则，当前信息与能谱界面对比，自定义能谱最大值，自定义零元素。

本发明的第二个方面提供了一种颗粒分析管理软件的应用，应用于飞行器，汽车，铁路，轮船的机电仪表产品的清洁领域。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

(1)本发明所述的颗粒分析管理软件中包含了行业专家的标准库，也可以结合不同的样品自定义不同的测试标准，数据的选取参照更加灵活。

(2)本发明所述的颗粒分析管理软件将电子扫描显微镜与元素分析系统结合，利用扫描显微镜高分辨率成像功能结合X射线分析可以对各类样品进行元素分析。

(3)本发明所述的颗粒分析管理软件可以通过设置一定的程序，实现自动化的专业清洁度分析，避免消耗时间长，分析结果前后不一致的弊端。