[发明专利]一种颗粒分析管理软件及其应用在审
| 申请号: | 202110432638.2 | 申请日: | 2021-04-21 |
| 公开(公告)号: | CN114720333A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
| 发明(设计)人: | 樊雪松 | 申请(专利权)人: | 上海仲柯软件有限公司 |
| 主分类号: | G01N15/00 | 分类号: | G01N15/00;G01N15/02;G01N23/2251;G06T7/00;G06T7/60;G06T11/20 |
| 代理公司: | 上海微策知识产权代理事务所(普通合伙) 31333 | 代理人: | 张静 |
| 地址: | 201900 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 颗粒 分析 管理软件 及其 应用 | ||
1.一种颗粒分析管理软件,其特征在于,包括样品测试程序,报告程序,标准库编辑器。
2.根据权利要求1所述的颗粒分析管理软件,其特征在于,所述样品测试程序包括样品台选取,样品与电镜对应,测量区域选取,测量参数设置,测量图像去背景,保存测量结果。
3.根据权利要求2所述的颗粒分析管理软件,其特征在于,所述测量参数设置包括常规测试参数,图像扫描参数,图像处理参数,电镜工作参数。
4.根据权利要求3所述的颗粒分析管理软件,其特征在于,所述图像扫描参数包括终止方式,取图方式,扫描精度,扫描尺寸。
5.根据权利要求3所述的颗粒分析管理软件,其特征在于,所述图像处理参数包括颗粒尺寸大小范围,背景灰度范围,颗粒灰度范围。
6.根据权利要求1所述的颗粒分析管理软件,其特征在于,所述报告程序包括元素分析情况,颗粒计算方式,数据图像分析。
7.根据权利要求6所述的颗粒分析管理软件,其特征在于,所述颗粒计算方式包括颗粒的最长直径,最短直径,面积,等效圆面积,费雷特直径。
8.根据权利要求6所述的颗粒分析管理软件,其特征在于,所述数据图像分析包括饼图,圈图,柱状图,线状图,堆叠图,三元相图。
9.根据权利要求1所述的颗粒分析管理软件,其特征在于,所述标准库编辑器包括自定义元素分类规则,当前信息与能谱界面对比,自定义能谱最大值,自定义零元素。
10.一种根据权利要求1-9任一项所述的颗粒分析管理软件的应用,其特征在于,应用于飞行器,汽车,铁路,轮船的机电仪表产品的清洁领域。
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