[发明专利]非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量系统及方法有效
申请号: | 202110426807.1 | 申请日: | 2021-04-20 |
公开(公告)号: | CN113176074B | 公开(公告)日: | 2022-09-27 |
发明(设计)人: | 罗时文;洪志坤;郑增强;张胜森;梅林海 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01M11/00;G02F1/13 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 黄行军 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接触 demura gamma flicker 三合一 测量 系统 方法 | ||
1.一种非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量系统,其特征在于:包括以下模块:
相机工作模式选择与切换模块(3):用于根据模式选择指令将彩色相机(1)切换到对应的工作模式,所述工作模式包括Demura工作模式、Gamma工作模式、Flicker工作模式;
图像采集模块(4):所述图像采集模块(4)同时具有2种图像采集模式,分别为:高帧率图像采集模式和高分辨图像采集模式;所述图像采集模块(4)根据彩色相机(1)所对应的工作模式选择对应的所述图像采集模式,获得采集的图像;
数据处理模块(5):用于根据所述彩色相机(1)对应的所述工作模式和所述采集的图像进行数据处理,获得数据处理结果;所述数据处理结果包括Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据、Gamma工作模式下的补偿数据和Demura工作模式下的补偿数据中的至少一种。
2.根据权利要求1所述的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量系统,其特征在于:当彩色相机(1)所对应的工作模式为Flicker工作模式或者Gamma工作模式时,所述图像采集模块(4)工作在所述高帧率图像采集模式,所述数据处理模块(5)根据所述彩色相机(1)在高帧率图像采集模式下采集的图像获得Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据或者Gamma工作模式下的补偿数据。
3.根据权利要求2所述的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量系统,其特征在于:所述图像采集模块(4)工作在高帧率图像采集模式时,所述图像采集模块(4)的感光芯片采用下采样方式读取数据。
4.根据权利要求3所述的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量系统,其特征在于:所述下采样方式包括subsampling或binning方式。
5.根据权利要求1所述的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量系统,其特征在于:当彩色相机(1)所对应的工作模式为Demura工作模式时,所述图像采集模块(4)工作在高分辨图像采集模式,所述数据处理模块(5)根据所述彩色相机(1)在高分辨率图像采集模式下采集的图像获得Demura工作模式下的补偿数据。
6.根据权利要求1所述的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量系统,其特征在于:还包括存储模块(6)和烧录模块(7),所述存储模块(6)用于存储Demura工作模式输出的Demura工作模式下的补偿数据,或Gamma工作模式输出的Gamma工作模式下的补偿数据,或Flicker工作模式输出的Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据;所述烧录模块(7)用于将所述Demura工作模式下的补偿数据,或所述Gamma工作模式下的补偿数据,或所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据同时进行烧录。
7.一种利用权利要求1~6任一所述的测量系统的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量方法,其特征在于:包括以下步骤:
S100.利用所述测量系统对LED(2)进行Flicker测量和修复,获得并保存Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据;
或利用所述测量系统对LED(2)进行Demura测量和修复,获得并保存Demura工作模式下的补偿数据;
或利用所述测量系统对LED(2)进行Gamma测量和修复,获得并保存Gamma工作模式下的补偿数据;
S200.利用烧录模块(7)将所述Demura工作模式下的补偿数据,或所述Gamma工作模式下的补偿数据,或所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据进行烧录。
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