[发明专利]一种碱性覆盖剂压片荧光分析方法在审
| 申请号： | 202110398450.0 | 申请日： | 2021-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN113092512A | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 席云荣;刘秀秀;邵海秀;李金花 | 申请（专利权）人： | 山东莱钢永锋钢铁有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 济南舜科知识产权代理事务所(普通合伙) 37274 | 代理人： | 张帅 |
| 地址： | 251100 *** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 碱性 覆盖 压片 荧光 分析 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种碱性覆盖剂压片荧光分析方法，其特征在于，包括以下步骤：
1)碱性覆盖剂试样的磨制粒度≥180目，进入研钵研制的碱性覆盖剂试样定量为60±2克，研制时间为100秒；
2)校准样品的制备，配制用于建立校准曲线的校准样品，校准样品为包含不同种类、不同含量的元素，其元素为钙和/或硅元素；
3)制备校准样品样片，将灼烧后的校准样品利用压片机进行压制样片，压制压力为30吨，保压时间为30秒；
4)校准曲线的建立，利用X射线荧光光谱仪分别测定制备校准样品样片中钙和硅元素的荧光强度值，利用理论α系数进行元素之间的校正，建立元素含量与校正后荧光强度值的校准曲线，获得校准曲线的斜率和截距；
5)按照步骤2)制备校准样品样片的方法制备待测样品样片，再利用X射线荧光光谱仪分析待测样品样片，获得镁和硅元素校正后的荧光强度值。
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