[发明专利]共用探测器的切尼特纳光谱仪及方法

说明书

公开了一种共用探测器的切尼特纳光谱仪及方法，系统中，第一光谱仪生成第一波段光谱范围的M型光路，第一入射单元入射第一入射光，第一准直单元相对所述第一入射单元布置以将所述第一入射光平行照射到第一分光单元，第一分光单元相对于所述第一准直单元布置以分光色散所述第一入射光，第一聚焦单元相对于所述第一分光单元布置以将所述色散后的第一入射光聚焦到探测器；第二光谱仪生成第二波段光谱范围的M型光路，探测器相对于第一聚焦单元和第二聚焦单元，所述探测器共用于所述第一光谱仪和第二光谱仪。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，特别是一种共用探测器的切尼特纳光谱仪及方法。

背景技术

光谱仪器是光学检测领域的一个重要工具，光谱仪可以实现对物质结构和成分的探测和分析，具有分析精度高、测量范围大，检测速度快等优点。现有光谱仪结构中最为常用的是切尼特纳光谱仪(Czerny-Turner，C-T光谱仪)；Czerny-Turner光谱仪可在一个空间维度上对入射光成像并能够分辨出其光谱强度，被广泛用于遥感、食品检测和药品检测等领域。传统C-T光谱仪由一个平面光栅和两个球面镜组成。通过准直镜对从入射狭缝进入的信号光进行准直并通过光栅进行衍射后，由聚焦镜将其聚焦到探测器上。现有的C-T光谱仪存在像差，光谱段窄且分辨率低的缺陷。

背景技术部分中公开的上述信息仅仅用于增强对本发明背景的理解，因此可能包含不构成本领域普通技术人员公知的现有技术的信息。

发明内容

鉴于上述问题，本发明的目的是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种共用探测器的切尼特纳光谱仪及方法，本发明的目的是通过以下技术方案予以实现。

一种共用探测器的切尼特纳光谱仪，其包括，

第一光谱仪，其生成第一波段光谱范围的M型光路，所述第一光谱仪包括，

第一入射单元，其入射第一入射光，

第一准直单元，其相对所述第一入射单元布置以将所述第一入射光平行照射到第一分光单元，

第一分光单元，其相对于所述第一准直单元布置以分光色散所述第一入射光，

第一聚焦单元，其相对于所述第一分光单元布置以将所述色散后的第一入射光聚焦到探测器；

第二光谱仪，其生成第二波段光谱范围的M型光路，所述第二光谱仪包括，

第二入射单元，其入射第二入射光，

第二准直单元，其相对所述第二入射单元布置以将所述第二入射光平行照射到第二分光单元，

第二分光单元，其相对于所述第二准直单元布置以分光色散所述第二入射光，

第二聚焦单元，其相对于所述第二分光单元布置以将所述色散后的第二入射光聚焦到探测器；

探测器，其相对于第一聚焦单元和第二聚焦单元，所述探测器共用于所述第一光谱仪和第二光谱仪。

所述的一种共用探测器的切尼特纳光谱仪中，第一入射单元包括，

第一入射光纤，其导入第一入射光，

第一光纤适配器，其连接所述第一入射光纤，

第一聚焦透镜，其设在所述第一光纤适配器上以聚焦所述第一入射光，

第一狭缝，其设在所述第一聚焦透镜和第一准直单元之间使得所述第一入射光以预定光斑形状和预定光通量入射到所述第一准直单元；

第二入射单元包括，

第二入射光纤，其导入第二入射光，

第二光纤适配器，其连接所述第二入射光纤，