[发明专利]一种红外热电堆传感器、芯片及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110389656.7 申请日: 2021-04-12
公开(公告)号: CN113104805A 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 费跃;焦继伟;刘京;陈思奇 申请(专利权)人: 上海芯物科技有限公司
主分类号: B81B7/02 分类号: B81B7/02;B81B7/00;H01L35/04;H01L35/28;H01L35/34
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 红外 热电 传感器 芯片 及其 制备 方法
【说明书】:

发明实施例公开了一种红外热电堆传感器、芯片及其制备方法,红外热电堆传感器包括第一区域以及围绕第一区域的第二区域,第一区域设置有悬空膜;位于悬空膜一侧且位于第一区域的多个加热电阻,位于悬空膜一侧且部分位于第一区域的多个热电堆结构;加热电阻上传输有加热电压信号,加热电阻用于在加热电压信号作用下发热;热电堆结构包括热端和冷端,热端位于第一区域,冷端位于第二区域,加热电阻的发热温度大于冷端温度。通过设置多个加热电阻,加热电阻的发热温度远大于相对于外部环境温度确定的冷端温度,以实现红外热电堆传感器在受到外部环境温度冲击时,红外热电堆传感器的探测依旧保持稳定,探测结果准确。

技术领域

本发明实施例涉及红外热电堆传感器技术,尤其涉及一种红外热电堆传感器、芯片及其制备方法。

背景技术

红外热电堆传感器是一种利用塞贝克效应,将红外辐射能量转换为电信号输出的传感器。利用MEMS和CMOS工艺相结合,可以将红外热电堆传感器制造成一定规模的红外阵列传感器芯片,将一定区域内的所有被测物体探测以二维平面的方式,展现出各自的温度分布状态,广泛应用于各类智能家居产品中。

通常MEMS红外热电堆传感器芯片结构由P型热电偶组成和N型热电偶组成,P型热电偶和N型热电偶接触的一端置于红外热电堆传感器芯片的中心悬空薄膜上,用于感应吸收到的红外辐射,作为传感器的热端。另外一端置于红外热电堆传感器芯片的外围,作为传感器的冷端。红外热电堆传感器通过冷热两端的温度差相对值,利用塞贝克效应实现传感器的信号输出。由于感应的是温度的相对值,所以通常需要外置一个外部参考温度源来确定冷端的温度。此外,如果传感器受到外部的温度热冲击,比如室外强风、室内空调热对流,使冷端的温度容易受到干扰,导致传感器温度不稳,从而影响红外热电堆传感器的真实探测准确度。

发明内容

本发明实施例提供一种红外热电堆传感器、芯片及其制备方法,以实现红外热电堆传感器在受到外部环境温度冲击时,红外热电堆传感器的探测依旧保持稳定,探测结果准确。

第一方面,本发明实施例提供了一种红外热电堆传感器,包括:

第一区域以及围绕所述第一区域的第二区域,所述第一区域设置有悬空膜;

位于所述悬空膜一侧且位于所述第一区域的多个加热电阻,位于所述悬空膜一侧且部分位于所述第一区域的多个热电堆结构;

所述加热电阻上传输有加热电压信号,所述加热电阻用于在所述加热电压信号作用下发热;

所述热电堆结构包括热端和冷端,所述热端位于所述第一区域,所述冷端位于所述第二区域,所述加热电阻的发热温度大于所述冷端温度。

可选的,任意两个所述加热电阻并联设置。

可选的,多个所述加热电阻均匀设置于所述第一区域。

可选的,所述加热电阻的发热温度为T1,所述冷端温度为T2,其中,T1-T2≥20℃。

可选的,所述加热电阻包括正极接触孔和负极接触孔;

所述红外热电堆传感器还包括正极连接线和负极连接线,所述正极连接线分别与所述正极接触孔和正极端口连接,所述负极连接线分别与所述负极接触孔和负极端口连接。

可选的,所述热电堆结构包括叠层设置的P型热电堆和N型热电堆,所述P型热电堆设置于所述N型热电堆远离所述悬空膜的一侧;

所述加热电阻和所述N型热电堆同层设置。

可选的,所述热电堆结构包括叠层设置的P型热电堆和N型热电堆,所述P型热电堆设置于所述N型热电堆远离所述悬空膜的一侧;

所述热电堆传感器还包括热端连接线和冷端连接线;

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