[发明专利]发光二极管封装件和包括其的显示设备在审
申请号: | 202110371300.0 | 申请日: | 2021-04-07 |
公开(公告)号: | CN113838405A | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
发明(设计)人: | 金炅俊 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32;H01L27/15 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 赵南;张青 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 封装 包括 显示 设备 | ||
1.一种发光二极管封装件,包括:
第一发光二极管像素,其包括多个第一发光二极管芯片;以及
第一像素驱动集成电路,其被配置为基于使用整个第一帧时段的有源矩阵模式来驱动所述多个第一发光二极管芯片,
其中,所述第一像素驱动集成电路包括:
第一存储区,其被配置为存储所述多个第一发光二极管芯片中的每一个的第一帧数据;
第二存储区,其被配置为存储所述多个第一发光二极管芯片中的每一个的占空比补偿数据;
脉冲宽度调制数据计算器,其被配置为对从所述第一存储区提供的所述第一帧数据和从所述第二存储区提供的所述占空比补偿数据执行算术运算,以生成脉冲宽度调制数据;以及
脉冲宽度调制数据生成器,其被配置为基于所述脉冲宽度调制数据来调节发射占空比。
2.根据权利要求1所述的发光二极管封装件,其中,所述第一像素驱动集成电路还包括:
解串器,其被配置为从外部控制器接收串行数据,从所述串行数据中提取并存储所述多个第一发光二极管芯片中的每一个的第一帧数据,并且将所述第一帧数据提供给所述第一存储区;以及
恒定电流生成器,其被配置为基于电源电压生成参考电流,并且
其中,所述脉冲宽度调制数据生成器被配置为基于时钟信号、脉冲宽度调制时钟信号、所述脉冲宽度调制数据和从所述恒定电流生成器提供的所述参考电流,向所述多个第一发光二极管芯片提供多个第一驱动电流。
3.根据权利要求2所述的发光二极管封装件,其中,所述脉冲宽度调制数据计算器被配置为在第一模式下对所述第一帧数据和所述占空比补偿数据执行乘法运算,并且在第二模式下对所述第一帧数据和所述占空比补偿数据执行加法运算。
4.根据权利要求3所述的发光二极管封装件,其中,所述占空比补偿数据包括k比特的数据,其中,k是4或更大的自然数,
其中,所述占空比补偿数据的第一比特指示所述第一模式和所述第二模式中的一个模式,并且
其中,所述占空比补偿数据的k-1比特指示基于所述多个第一发光二极管芯片中的相应发光二极管芯片的亮度特性值的占空比补偿系数。
5.根据权利要求3所述的发光二极管封装件,其中,所述第一像素驱动集成电路被配置为:
在所述第一帧时段期间,接收所述第一帧数据并将所述第一帧数据提供给所述第一存储区,以及
在所述第一帧时段之后的第二帧时段期间,使用所述第一模式和所述第二模式之一,基于通过对从所述第一存储器提供的所述第一帧数据和从所述第二存储区提供的所述占空比补偿数据执行算术运算而计算出的所述脉冲宽度调制数据来生成所述多个第一驱动电流,并且接收第二帧数据并将所述第二帧数据提供给所述第一存储区。
6.根据权利要求2所述的发光二极管封装件,其中,所述第一像素驱动集成电路还包括检测器,所述检测器被配置为基于在所述多个第一发光二极管芯片中的至少一个中发生的电缺陷来检测所述电缺陷并生成故障检测信号。
7.根据权利要求6所述的发光二极管封装件,其中,所述故障检测信号被提供给所述外部控制器,并且
其中,基于所述故障检测信号来限制所述多个第一发光二极管芯片的驱动。
8.根据权利要求6所述的发光二极管封装件,其中,所述故障检测信号被提供给所述第一存储区和所述脉冲宽度调制数据生成器中的任何一个或者所述第一存储区和所述脉冲宽度调制数据生成器的任何组合,并且
其中,基于所述故障检测信号来限制所述多个第一发光二极管芯片的驱动。
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