[发明专利]一种自适应辐射测量的死时间补偿方法

说明书

本发明公开了一种自适应辐射测量的死时间补偿方法，通过为现有死时间补偿公式中引入自适应修正因子，实现对该方法解除了现有方法中公式适用条件的限制，使死时间补偿方法不受死时间率的限制而具有普适性。本发明公开的自适应辐射测量死时间补偿方法降低了高计数率时现有修正方法中对死时间率变化的敏感度，使得测试的刻度曲线在整个测量范围内都具有较小的测量误差，从而拓展仪器系统的测量范围，提高死时间补偿的通用性。

技术领域

本发明属于辐射测量技术，具体涉及一种自适应辐射测量的死时间补偿方法。

背景技术

死时间，是用计数法进行辐射测量时，辐射探测器或者测量系统对该时间段内的输入信号无响应的时间。在死时间内，辐射探测器或测量系统会发生计数遗漏，从而造成测量损失。死时间造成的测量损失在高计数率时对测量的准确性影响非常严重，必须对死时间导致的计数率损失进行补偿。

对不可抑制性计数系统，现有的死时间补偿方法依据式(1)进行：

式中：n为修正计数率，m为测得计数率，τ为系统死时间。

式(1)的适用条件为mτ＜＜1，mτ的物理意义为单位时间内死时间的比率(也称为死时间率)。也就是说，式(1)仅适用于计数率足够小，小到其对死时间的影响几乎可以忽略不计的情况。

实际应用中，通常要求死时间率30％。因为，当死时间率大于30～40％后，根据式(1)计算得到的真实计数率对测得计数率的变化会非常敏感，m的微小变化就会导致n的变化较大。对死时间率的限制，影响了探测器的可用测量范围，因此，现有式(1)给出的死时间补偿方法存在很大的局限性。

发明内容

本发明的目的是针对现有辐射测量死时间补偿技术中存在的问题，提供一种自适应辐射测量死时间补偿，通过为现有死时间补偿公式中引入自适应修正因子，实现对该方法解除了现有方法中公式适用条件的限制，使死时间补偿方法不受死时间率的限制而具有普适性。

一种自适应辐射测量的死时间补偿方法，依据公式对辐射测量死时间进行补偿，其中，n为修正计数率，m为测得计数率，τ为系统死时间，d为修正因子，所述d＝f(m)，f为任意使0d1，且当ms或ms时，均能使其相应剂量率测量的相对误差小于3％的函数，其中，s为修正阈值，根据仪器选择，6000s15000；对不同的辐射测量系统，根据系统死时间τ自适应地修正计数率n，实现对辐射测量死时间的补偿。

本发明的有益效果是：通过构建自适应修正因子对死时间率进行约束，降低高计数率时现有修正方法中对死时间率变化的敏感度，使得测试的刻度曲线在整个测量范围内都具有较小的测量误差，从而拓展仪器系统的测量范围，提高死时间补偿的通用性。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明技术方案作进一步详细说明。

一种自适应辐射测量的死时间补偿方法，依据公式对辐射测量死时间进行补偿，其中，n为修正计数率，m为测得计数率，τ为系统死时间，d为修正因子，所述d＝f(m)，f为任意使0d1，且当ms或ms时，均能使其相应剂量率测量的相对误差小于3％的函数，其中，s为修正阈值，根据仪器选择，6000s15000；对不同的辐射测量系统，根据系统死时间τ自适应地修正计数率n，实现对辐射测量死时间的补偿。

实施例1

采用ZP1202型G-M计数管进行辐射测量，测量结果采用现有死时间补偿方法处理后的结果见表1。

表1现有死时间补偿修正结果

ZP1202型G-M计数管测量的灵敏度k＝1.67cps/μSv/h，死时间τ＝0.000065s。