[发明专利]一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统

说明书

本发明公开了一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统，属于电网用电信息采集技术领域。本发明方法，包括：设置电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间，确定每组测试数据的响应时间；根据每组测试数据的响应时间及权重比例，确定电力芯片的响应时间。本发明为芯片在具体设备中的应用提供了关键技术指标，为芯片生产及场景应用提供技术指导，有效的促进芯片产业链的应用对接。

技术领域

本发明涉及电网用电信息采集技术领域，并且更具体地，涉及一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统。

背景技术

面向电力行业设备应用特点，作为国家关键基础设施的电网系统，芯片需要集成国产密码算法以保证信息源的安全。在用电信息采集系统中，电力安全芯片应用于全环节中，上至系统主站，下至千家万户的电能表。安全芯片内置国密算法，用户通过安全芯片进行用户身份认证及权限管理，设备通过安全芯片进行身份认证，数据信息通过安全芯片进行加密传输，保障了用户数据信息的隐私性，保证了用户数据的安全及不被篡改，为用电信息采集系统安全防护提供技术保障。

电力专用芯片根据国家密码标准对指令的输入及执行进行加解密处理，其加解密的速度及实时性将成为衡量芯片性能的重要指标，急需开展国密算法电力安全芯片的数据处理响应速度进行验证及测试的方法研究，为芯片研制提供重要的技术指标，为芯片批量化生产和应用提供支撑和保障。

国家密码管理办公室自2002年起，开始制定并颁布一系列的密码标准，从而建立并完善国家的密码体系结构。目前已经公布的国密算法包括祖冲之算法、SM1、SM2、SM3、SM4、SM7、SM9算法等等。其中祖冲之算法、SM1、SM4、SM7是对称密码算法；SM2、SM9是非对称密码算法；SM3是杂凑密码算法。

传统的芯片测试环境是由三部分组成：激励生成(Stimulus Generator)、DUT(Device Under Test)和响应检测(Response Checking)。DUT就是待测的逻辑电路，激励生成模块将测量信号向量根据DUT的输入接口信号时序输入到被测电路中，响应检测模块接收到被驱动的DUT的输出结果，根据分析，判断DUT是否符合设计功能。

发明内容

本发明为了实现芯片响应时间的测试，且为芯片应用提供支撑和保障，而提出了一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法，包括：

设置电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；

针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；

根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间，确定每组测试数据的响应时间；

根据每组测试数据的响应时间及权重比例，确定电力芯片的响应时间。

可选的，测试数据的响应时间为发送测试数据的时间与接收反馈数据的时间的差值。

可选的，测试数据通过c语言编写的软件生成并发送。

可选的，c语言编写的软件通过SPI通讯总线连接电力芯片。

可选的，方法，还包括：去除确定的每组测试数据的响应时间中的无效数据；

其中，无效数据为偏离数据区间的数据。

本发明还提出了一种适用于电力安全芯片响应时间的测试系统，包括：

初始单元，设置电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；

数据采集单元，针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；