[发明专利]一种图像处理方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种图像处理方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：对获取的第一图片和第二图片分别进行特征点检测，得到第一图片的第一特征点集和第二图片的第二特征点集；第一图片通过第一采集模块采集，第二图片通过第二采集模块采集；对第一特征点集和第二特征点集分别进行特征点筛选，得到第三特征点集和第四特征点集；基于第三特征点集和第四特征点集，确定第一图片和第二图片的视差图。该方案确定的视差图误差小。

技术领域

本发明一般涉及电子设备技术领域，具体涉及一种图像处理方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在电子设备的摄像头的应用中，比如深度计算、空间测量、人像虚化、平滑切换(SAT)、图像合成(Fusion)、多目三维重建等等，都要求两个或多个摄像头同时工作。此时就要获取这些摄像头之间的位置关系以及各自的内外参数，即对摄像头进行标定，基于标定后得到的视差图进行应用。

标定分为离线标定和在线标定。在电子设备行业里，离线标定通常指生产线上对两个或多个摄像头的标定；而在线标定是指用户在使用过程中，对两个或多个摄像头的实时标定。由于电子设备的两个或多个摄像头在使用、运输过程中，难免发生形变或位移，导致离线标定结果在实际使用过程中，会发生偏差，因此需要引入在线标定。

目前对两个或多个摄像头进行在线标定时，主要是基于特征点检测和单应性矩阵估算，是串行的处理过程，标定后得到的视差图误差较大。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种图像处理方法、装置、电子设备及存储介质。

第一方面，本发明提供了一种图像处理方法，该方法包括：

对获取的第一图片和第二图片分别进行特征点检测，得到第一图片的第一特征点集和第二图片的第二特征点集；第一图片通过第一采集模块采集，第二图片通过第二采集模块采集；

对第一特征点集和第二特征点集分别进行特征点筛选，得到第三特征点集和第四特征点集；

基于第三特征点集和第四特征点集，确定第一图片和第二图片的视差图。

在其中一个实施例中，该方法还包括：

若视差图不满足预设条件，将第三特征点集更新为第一特征点集，将第四特征点集更新为第二特征点集，返回执行对第一特征点集和第二特征点集分别进行特征点筛选步骤，直至得到的视差图满足预设条件。

在其中一个实施例中，该方法还包括：

统计返回执行对第一特征点集和第二特征点集分别进行特征点筛选的次数，并将次数记为迭代次数；

该方法还包括：

若视差图不满足预设条件且迭代次数小于或等于第一数值，返回执行对第一特征点集和第二特征点集分别进行特征点筛选，直至视差图满足预设条件或视差图不满足预设条件且迭代次数大于第一数值。

在其中一个实施例中，对第一特征点集和第二特征点集分别进行特征点筛选包括：

对特征点做深度方向的特征点筛选，得到第一筛选特征点集，第一筛选特征点集中的特征点在深度方向均匀分布；且

对特征点做平面方向的特征点筛选，得到第二筛选特征点集，第二筛选特征点集中的特征点在图像视场内均匀分布；

其中，特征点包括第一特征点集中的特征点或第二特征点集中的特征点。

在其中一个实施例中，对特征点做平面方向的特征点筛选，包括：

若迭代次数大于第二数值，根据视差图，确定每个特征点的视差值；

确定所有视差值的统计直方图；

基于统计直方图，筛选特征点。