[发明专利]增加探测长度的探测单元及分布式物理量测量装置

权利要求书

1.一种增加探测长度的探测单元，用于延长分布式物理量测量装置的探测范围，其特征在于，包括：

光纤耦合器，所述光纤耦合器包括本体，用于耦合所述分布式物理量远端探测装置以将探测光引入本体的至少第一端口；包括反射结构以向所述本体提供参考光的第二端口；用于与传感光纤相耦合以将包括被测物理量信息的测量光引入所述本体的第三端口；

其中，所述本体被配置为能够将自所述第一端口导入的探测光传输至所述第二端口和第三端口，以及使得来自第二端口的参考光以及将来自所述第三端口的所述测量光发生干涉并传输至第一端口。

2.一种增加探测长度的分布式物理量探测装置，其特征在于：该装置包括：

光纤耦合器，所述光纤耦合器包括本体，用于耦合分布式物理量测量装置以将探测光引入本体的至少第一端口；包括反射结构以向所述本体提供参考光的第二端口；用于与传感光纤相耦合以将包括被测物理量信息的测量光引入所述本体的第三端口；其中，所述本体被配置为能够将自所述第一端口导入的探测光传输至所述第二端口和第三端口，以及将来自第二端口的参考光以及将来自所述第三端口的测量光传输至第一端口；

所述分布式物理量测量装置的测量主机，包括提供连续调谐探测激光的激光光源，光纤环形器，和单端光电探测器，所述光纤环形器用于将所述探测激光导出至所述光纤通路并将所述光纤通路返回的包括被测物理量信息的测量光导出至所述单端光电探测器；以及

缓冲光缆，包括至少一条光纤通路，其中所述光纤通路一端耦合所述光纤环形器，另一端耦合所述光纤耦合器的第一端口。

3.一种增加探测长度的探测单元，用于延长分布式物理量测量装置的探测范围，其特征在于，包括：

光纤耦合器，所述光纤耦合器包括本体，用于耦合所述分布式物理量测量装置以将探测光引入本体的至少第一端口；包括反射结构以向所述本体提供参考光的第二端口；用于与传感光纤相耦合以将包括被测物理量信息的测量光引入所述本体的第三端口，以及用于将所述测量光向外导出的第四端口；

其中，所述本体被配置为能够将自所述第一端口导入的探测光传输至所述第二端口和第三端口，以及将来自第二端口的参考光以及将来自所述第三端口的所述测量光发生干涉并传输至第一端口和第四端口。

4.一种增加探测长度的分布式物理量探测装置，具有延长的探测范围，其特征在于该装置包括：

测量主机，包括提供连续调谐探测激光的激光光源，光纤环形器，和差分光电探测器，所述光纤环形器用于将所述探测激光导出并将返回的包括被测物理量信息的干涉光导出至所述差分光电探测器；

光纤耦合器，所述光纤耦合器包括本体，用于耦合所述测量主机以将探测光引入本体的至少第一端口；包括反射结构以向所述本体提供参考光的第二端口；用于与传感光纤相耦合以将包括被测物理量信息的测量光引入所述本体的第三端口，以及用于将所述测量光向外导出的第四端口；其中，所述本体被配置为能够将自所述第一端口导入的探测光传输至所述第二端口和第三端口，以及将来自第二端口的参考光以及将来自所述第三端口的所述测量光发生干涉形成并传输至第一端口和第四端口；

缓冲光缆，包括至少第一光纤通路和第二光纤通路，其中所述第一光纤通路一端耦合于所述光纤环形器，另一端耦合所述光纤耦合器的第一端口，所述第二光纤通路的一端耦合于所述第四端口，另一端耦合于与所述差分光电探测器。

5.一种增加探测长度的分布式物理量探测装置，其特征在于：该装置包括：测量主机，包括可调谐激光器，输出波长连续调谐激光，作为装置光源，还包括环形器，差分光电探测器，光纤耦合器，采集模块，处理器；远端探测盒，用于作为所述测量主机与传感光纤的中转器件，包括一个2×2端口的光纤耦合器，该耦合器一侧的两个端口连接缓冲光缆内两根光纤，另一侧的两个端口其中之一连接或者配置为具有可以实现光反射的功能或结构，另一个连接传感光纤；以及缓冲光缆，用于连接所述测量主机与所述远端探测盒，包括两根光纤通路。

6.一种增加探测长度的分布式物理量探测装置，其特征在于：该装置包括：测量主机，包括可调谐激光器，输出波长连续调谐激光，作为装置光源，还包括环形器，光电探测器，采集模块，处理器；远端探测盒，用于作为所述测量主机与传感光纤的中转器件，包括一个1×2端口的光纤耦合器，该耦合器一侧的端口连接缓冲光缆，另一侧的两个端口中之一连接或者配置为具有可以实现光反射的功能或结构，另一个连接传感光纤；以及缓冲光缆，用于连接测量主机与远端探测盒，包括一根光纤通路。