[发明专利]精度评价装置及精度评价方法有效

专利信息
申请号: 202110272459.7 申请日: 2021-03-12
公开(公告)号: CN113494899B 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 熊泽丰和;河野一郎;井手隼人 申请(专利权)人: 本田技研工业株式会社
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;G01B11/24
代理公司: 大连东方专利代理有限责任公司 21212 代理人: 李银姬;李馨
地址: 日本东京都*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 精度 评价 装置 方法
【说明书】:

评价第1、第2部件经由第1结合面和第2结合面结合时的结合部的精度的精度评价装置,具备取得第1、第2部件各自的设计数据以及测量数据的数据取得部、基于设计数据和测量数据,分别计算在设计上于第1、第2结合面上的相同位置上所确定的设计基准点的设计数据同与设计基准点相对应的第1结合面上的第1基准点的测量数据和与设计基准点相对应的第2结合面上的第2基准点的测量数据之间的误差的误差计算部、基于设计基准点与第1基准点之间和与第2基准点之间的误差计算第1、第2部件结合时的在设计基准点的干扰程度的干扰程度计算部以及基于设计数据显示第1、第2部件的设计模型并将表示干扰程度的图像重叠于设计基准点的位置而显示的显示部。

技术领域

本发明涉及一种对相互结合的第1部件和第2部件的结合部的精度进行评价的精度评价装置及精度评价方法。

背景技术

以往已知有将测量实际的部件的形状而得到的点云数据与该部件的设计数据相关联地设置的装置(例如参见专利文献1)。在专利文献1记载的装置中,针对观察点周边的点云数据计算表示形状的特征值,将计算出的特征值与根据设计数据得到的特征值进行对比,由此将点云数据按照每一设计数据的要素进行分组并关联。

然而,在专利文献1记载的装置中,点云数据与面等整个要素相对应地关联,因此在评价部件彼此相结合的结合部的精度时,不容易掌握相对于设计基准位置的误差。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2008-76384号公报(JP2008-76384A)。

发明内容

本发明的一技术方案为对将具有第1结合面的第1部件与具有第2结合面的第2部件经由第1结合面和第2结合面相互结合时的结合部的精度进行评价的精度评价装置,具备:数据取得部,其取得第1部件和第2部件各自的设计数据以及预先测量出的第1部件和第2部件各自的测量数据;误差计算部,其基于由数据取得部取得的设计数据和测量数据,分别计算在设计上于第1结合面上和第2结合面上的相互相同位置上所确定的设计基准点的设计数据同与设计基准点相对应的第1结合面上的第1基准点的测量数据之间以及与设计基准点相对应的第2结合面上的第2基准点的测量数据之间的误差;干扰程度计算部,其基于由误差计算部计算出的设计基准点与第1基准点之间的误差和设计基准点与第2基准点之间的误差,计算第1部件和第2部件结合时的设计基准点上的干扰程度;以及显示部,其基于由数据取得部取得的设计数据,显示第1部件和第2部件的设计模型,并且将由干扰程度计算部计算出的表示干扰程度的图像重叠于设计模型的设计基准点的位置而显示。

本发明的另一技术方案为对将具有第1结合面的第1部件和具有第2结合面的第2部件经由第1结合面和第2结合面相互结合时的结合部的精度进行评价的精度评价方法,包括:数据取得步骤,在该步骤中,取得第1部件和第2部件各自的设计数据以及预先测量出的第1部件和第2部件各自的测量数据;误差计算步骤,在该步骤中,基于在数据取得步骤中取得的设计数据和测量数据,分别计算在设计上位于第1结合面上和第2结合面上的相互相同位置上所确定的设计基准点的设计数据和与设计基准点相对应的第1结合面上的第1基准点的测量数据之间以及与设计基准点相对应的第2结合面上的第2基准点的测量数据之间的误差;干扰程度计算步骤,在该步骤中,基于在误差计算步骤计算出的设计基准点与第1基准点之间的误差和设计基准点与第2基准点之间的误差,计算第1部件与第2部件结合时的设计基准点上的干扰程度;以及显示步骤,在该步骤中,基于在数据取得步骤中取得的设计数据,显示第1部件和第2部件的设计模型,并将在干扰程度计算步骤中计算出的表示干扰程度的图像重叠于设计模型的设计基准点的位置而显示。

附图说明

本发明的目的、特征以及优点,通过与附图相关的以下实施方式的说明进一步阐明。

图1是概略地示出应用本发明的实施方式的精度评价装置的结合部的一例的侧视图。

图2是用于说明设计数据和测量数据的图。

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