[发明专利]基板载置台及基板处理装置在审
申请号: | 202110266661.9 | 申请日: | 2021-03-11 |
公开(公告)号: | CN113451198A | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 津田荣之辅;鸟屋大辅;米仓总史;武田聪;福留誉司;池田恭子 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/67;C23C16/54 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基板载置台 处理 装置 | ||
本发明提供恰当地控制用于载置基板的载置面的温度的基板载置台及基板处理装置。该基板载置台具有:载置台主体,在该载置台主体的内部具有被冷却面;以及供给流路形成构件,该供给流路形成构件由导热性较所述载置台主体低的材料形成,且具有朝向所述被冷却面喷射制冷剂的冷却喷嘴。
技术领域
本公开涉及基板载置台及基板处理装置。
背景技术
已知有对载置于基板载置台的晶圆等基板实施所期望的处理(成膜、蚀刻等)的基板处理装置。另外,已知有控制被载置的基板的温度的基板载置台。
在专利文献1中公开了一种静电卡盘组件,其具有:静电卡盘;冷却板,其与所述静电卡盘相接触地配设,并且具有形成于其中的气体通道;以及气体箱,其与所述冷却板的所述气体通道的第1端部及第2端部相结合,能够以控制在所述气体通道流通的冷却气体的流量的方式工作。
专利文献1:日本特表2018-501653号公报
发明内容
在基板处理装置中,对载置于基板载置台的基板实施所期望的处理时,要求恰当地控制基板的温度。
本公开的一技术方案提供恰当地控制载置基板的载置面的温度的基板载置台及基板处理装置。
本公开的一技术方案所涉及的基板载置台具有:载置台主体,在其内部具有被冷却面;以及供给流路形成构件,其由导热性较所述载置台主体低的材料形成,且具有朝向所述被冷却面喷射制冷剂的冷却喷嘴。
根据本公开的一技术方案,能够提供恰当地控制载置基板的载置面的温度的基板载置台及基板处理装置。
附图说明
图1是一实施方式所涉及的基板处理装置的剖面示意图的一个例子。
图2是基板载置台的局部放大剖面示意图的一个例子。
图3是供给流路形成构件的俯视图的一个例子。
图4是利用基板载置台进行温度控制的一个例子。
图5是供给流路形成构件的俯视图的另一个例子。
具体实施方式
以下,参照附图对用于实施本公开的方式进行说明。在各附图中,对于相同的结构部分标注相同的附图标记,存在省略重复说明的情况。
<基板处理装置1>
使用图1说明一实施方式所涉及的基板处理装置1。图1是一实施方式所涉及的基板处理装置1的剖面示意图的一个例子。
基板处理装置1具有真空容器2、气体供给部3以及基板载置台4。基板处理装置1例如是热CVD(Chemical Vapor Deposition:化学气相沉积)装置,且是自气体供给部3向真空容器2内供给处理气体进而对在真空容器2内的基板载置台4载置的晶圆等基板W实施所期望的处理(例如成膜处理)的装置。
真空容器2具有真空端口(未图示)以及送入送出端口(未图示)。真空端口与排气装置(未图示)连接,以真空容器2内成为真空气氛的方式进行减压。送入送出端口构成为能够开闭,构成为能够经由送入送出端口将基板W向真空容器2内送入以及从真空容器2内送出。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京毅力科创株式会社,未经东京毅力科创株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110266661.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:提高人声品质方法以及装置
- 下一篇:终端的操作方法和终端
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造