[发明专利]电感缺陷检测方法、设备及可读存储介质在审
申请号: | 202110261790.9 | 申请日: | 2021-03-10 |
公开(公告)号: | CN112966755A | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 徐麟;张兵;陈林山;刘世盛;曹长根 | 申请(专利权)人: | 深圳市固电电子有限公司 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62;G06K9/46;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人: | 刘冰 |
地址: | 518105 广东省深圳市宝安区松岗街道江边*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电感 缺陷 检测 方法 设备 可读 存储 介质 | ||
本申请公开了一种电感缺陷检测方法、设备及可读存储介质,所述电感缺陷检测方法包括:获取待检测电感对应的待检测电感图像,并基于目标特征提取模型,对所述待检测电感图像进行特征提取,获得电感图像特征数据,其中,所述目标特征提取模型是基于预设第一图像类别集合和预设第二图像类别进行对比学习构建的;基于所述电感图像特征数据和预设电感缺陷检测模型,对所述待检测电感进行电感缺陷检测,获得电感缺陷检测结果。本申请解决了电感缺陷检测准确度低的技术问题。
技术领域
本申请涉及人工智能技术领域,尤其涉及一种电感缺陷检测方法、设备及可读存储介质。
背景技术
随着计算机技术的不断发展,人工智能的应用也越来越广泛,目前,在进行电感缺陷检测时,通常通过常规的卷积神经网络识别电感图像,进而实现电感缺陷检测的目的,但是,由于在基于神经网络提取电感图像的图像特征时,通常会对图像的像素矩阵进行降维,而在降维过程中又通常会存在图像信息丢失的情况,进而当电感图像携带的电感缺陷图像特征信息较少,将导致基于电感图像进行电感缺陷检测的准确度较低。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种电感缺陷检测方法、设备及可读存储介质,旨在解决现有技术中电感缺陷检测准确度低的技术问题。
为实现上述目的,本申请提供一种电感缺陷检测方法,所述电感缺陷检测方法应用于电感缺陷检测设备,所述电感缺陷检测方法包括:
获取待检测电感对应的待检测电感图像,并基于目标特征提取模型,对所述待检测电感图像进行特征提取,获得电感图像特征数据,其中,所述目标特征提取模型是基于预设第一图像类别集合和预设第二图像类别进行对比学习构建的;
基于所述电感图像特征数据和预设电感缺陷检测模型,对所述待检测电感进行电感缺陷检测,获得电感缺陷检测结果。
本申请还提供一种电感缺陷检测装置,所述电感缺陷检测装置为虚拟装置,且所述电感缺陷检测装置应用于电感缺陷检测设备,所述电感缺陷检测装置包括:
特征提取模块,用于获取待检测电感对应的待检测电感图像,并基于目标特征提取模型,对所述待检测电感图像进行特征提取,获得电感图像特征数据,其中,所述目标特征提取模型是基于预设第一图像类别集合和预设第二图像类别进行对比学习构建的;
电感缺陷检测模块,用于基于所述电感图像特征数据和预设电感缺陷检测模型,对所述待检测电感进行电感缺陷检测,获得电感缺陷检测结果。
本申请还提供一种电感缺陷检测设备,所述电感缺陷检测设备为实体设备,所述电感缺陷检测设备包括:存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的所述电感缺陷检测方法的程序,所述电感缺陷检测方法的程序被处理器执行时可实现如上述的电感缺陷检测方法的步骤。
本申请还提供一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有实现电感缺陷检测方法的程序,所述电感缺陷检测方法的程序被处理器执行时实现如上述的电感缺陷检测方法的步骤。
本申请还提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的电感缺陷检测方法的步骤。
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