[发明专利]一种军用热像观瞄具的检测设备及检测方法有效
申请号: | 202110256881.3 | 申请日: | 2021-03-09 |
公开(公告)号: | CN113109025B | 公开(公告)日: | 2021-11-12 |
发明(设计)人: | 张国光;崔明宝;王文良 | 申请(专利权)人: | 北京天创凯睿科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01M11/04 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 王艺涵 |
地址: | 100088 北京市海淀区青云里满庭*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 军用 热像观瞄具 检测 设备 方法 | ||
一种军用热像观瞄具的检测设备及检测方法,军用热像观瞄具的检测设备,包括:变温发热源,变温发热源受控制地改变其温度;阻挡格栅,设置在变温发热源以及军用热像观瞄具二者之间;格栅控温机构,与阻挡格栅相连,用于改变阻挡格栅的温度。通过上述相互配合的变温发热源、阻挡格栅以及格栅控温机构,可以有效地解决现有技术中用于军用热像观瞄具的检测设备无法有效地检测其各个红外线检测部件的好坏,且无法准确测量军用热像观瞄具其热辐射检测精度的问题。
技术领域
本发明涉及检测方法及设备技术领域,具体涉及一种军用热像观瞄具的检测设备及检测方法。
背景技术
热像观瞄具为将目标热辐射图像转换为可见光图像的瞄准镜。热像观瞄具是被动红外瞄准镜的一种。热像观瞄具可以区分目标与背景之间热辐射的微小差别,昼夜均可发现和瞄准目标,还可透过云雾和某些伪装发现目标。
由于军用热像观瞄具由密集布置的多个热成像检测发生机构组成,现有技术中的军用热像观瞄具具有多个密集布置的红外线检测部件,军用热像观瞄具通过上述多个红外线检测部件从而区分目标与背景之间热辐射,进而发现和瞄准目标。但是,现有技术中缺乏用于检测军用热像观瞄具其各个红外线检测部件是否均处于完好状态的检测设备。并且,现有的检测设备也无法测量到军用热像观瞄具是否能准确检测到标与背景之间热辐射的微小差别,导致现有用于军用热像观瞄具的检测设备无法精准检测军用热像观瞄具其热辐射检测精度的问题。
发明内容
本发明旨在提供一种军用热像观瞄具的检测设备及检测方法,以解决现有技术中用于军用热像观瞄具的检测设备无法有效地检测其各个红外线检测部件的好坏,以及无法准确测量军用热像观瞄具其热辐射检测精度的问题。为此,本发明提供一种军用热像观瞄具的检测设备,包括:
变温发热源,所述变温发热源受控制地改变其温度;
阻挡格栅,设置在所述变温发热源以及军用热像观瞄具二者之间;
格栅控温机构,与所述阻挡格栅相连,用于改变所述阻挡格栅的温度。
可选的,所述格栅控温机构包括:第一控制器,以及设置在所述阻挡格栅上的帕尔贴半导体器件;
所述第一控制器根据帕尔贴原理通过所述帕尔贴半导体器件对所述阻挡格栅进行加热;所述格栅控温机构上还设置有用于检测其温度的温度传感器,所述第一控制器与所述温度传感器通讯相连以控制帕尔贴半导体器件所需功率和电流方向。
可选的,所述变温发热源包括:发热源控温机构以及导热体;
所述发热源控温机构包括:第二控制器,以及设置在所述导热体上的帕尔贴半导体器件;
所述第二控制器根据帕尔贴原理通过所述帕尔贴半导体器件对该导热体进行加热;所述导热体上还设置有用于检测其温度的温度传感器,所述第二控制器与所述温度传感器通讯相连以控制帕尔贴半导体器件所需功率和电流方向。
可选的,所述导热体和/或所述阻挡格栅为紫铜材质。
可选的,所述阻挡格栅包括:沿水平方向布置的横向隔板和/或沿竖直方向布置的竖向隔板。
可选的,所述竖向隔板为片状结构,且所述竖向隔板的宽度与至少两个所述军用热像观瞄具其红外线检测部件相对应;
所述竖向隔板受驱动沿其周向方向转动以改变所述阻挡格栅阻挡所述军用热像观瞄具的面积。
可选的,军用热像观瞄具的检测设备,还包括:
格栅驱动机构,其包括:沿水平方向设置的齿条、驱动所述齿条沿水平方向伸缩的步进电机,以及设置在所述竖向隔板端部且与所述齿条齿合相连的齿轮;
所述阻挡格栅还包括:用于支撑所述横向隔板和所述竖向隔板的固定框架;所述竖向隔板其远离所述齿条的一端与所述固定框架转动相连。
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