[发明专利]一种军用热像观瞄具的检测设备及检测方法有效
申请号: | 202110256881.3 | 申请日: | 2021-03-09 |
公开(公告)号: | CN113109025B | 公开(公告)日: | 2021-11-12 |
发明(设计)人: | 张国光;崔明宝;王文良 | 申请(专利权)人: | 北京天创凯睿科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01M11/04 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 王艺涵 |
地址: | 100088 北京市海淀区青云里满庭*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 军用 热像观瞄具 检测 设备 方法 | ||
1.一种军用热像观瞄具的检测设备,其特征在于,包括:
变温发热源(1),所述变温发热源(1)受控制地改变其温度;
阻挡格栅(2),设置在所述变温发热源(1)以及军用热像观瞄具(3)二者之间;
格栅控温机构(4),与所述阻挡格栅(2)相连,用于改变所述阻挡格栅(2)的温度;
所述阻挡格栅(2)包括:沿水平方向布置的横向隔板(7)和/或沿竖直方向布置的竖向隔板(8);
所述竖向隔板(8)为片状结构,且所述竖向隔板(8)的宽度与至少两个所述军用热像观瞄具(3)其红外线检测部件相对应;
所述竖向隔板(8)受驱动沿其周向方向转动以改变所述阻挡格栅(2)阻挡所述军用热像观瞄具(3)的面积。
2.根据权利要求1所述的军用热像观瞄具的检测设备,其特征在于,所述格栅控温机构(4)包括:第一控制器,以及设置在所述阻挡格栅(2)上的帕尔贴半导体器件;
所述第一控制器根据帕尔贴原理通过所述帕尔贴半导体器件对所述阻挡格栅(2)进行加热;所述格栅控温机构(4)上还设置有用于检测其温度的温度传感器,所述第一控制器与所述温度传感器通讯相连以控制帕尔贴半导体器件所需功率和电流方向。
3.根据权利要求2所述的军用热像观瞄具的检测设备,其特征在于,
所述变温发热源(1)包括:发热源控温机构(5)以及导热体(6);
所述发热源控温机构(5)包括:第二控制器,以及设置在所述导热体(6)上的帕尔贴半导体器件;
所述第二控制器根据帕尔贴原理通过所述帕尔贴半导体器件对该导热体(6)进行加热;所述导热体(6)上还设置有用于检测其温度的温度传感器,所述第二控制器与所述温度传感器通讯相连以控制帕尔贴半导体器件所需功率和电流方向。
4.根据权利要求3所述的军用热像观瞄具的检测设备,其特征在于,所述导热体(6)和/或所述阻挡格栅(2)为紫铜材质。
5.根据权利要求1所述的军用热像观瞄具的检测设备,其特征在于,还包括:
格栅驱动机构,其包括:沿水平方向设置的齿条(9)、驱动所述齿条(9)沿水平方向伸缩的步进电机(11),以及设置在所述竖向隔板(8)端部且与所述齿条(9)齿合相连的齿轮(10);
所述阻挡格栅(2)还包括:用于支撑所述横向隔板(7)和所述竖向隔板(8)的固定框架;所述竖向隔板(8)其远离所述齿条(9)的一端与所述固定框架转动相连。
6.根据权利要求1所述的军用热像观瞄具的检测设备,其特征在于,
所述横向隔板(7)受驱动沿其周向方向转动以改变所述阻挡格栅(2)阻挡所述军用热像观瞄具(3)的面积。
7.一种权利要求1至6中任一项所述的军用热像观瞄具的检测设备其检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,控制所述变温发热源(1)和所述阻挡格栅(2)改变温度,使其二者之间的温差变化;同时,通过军用热像观瞄具(3)检测所述变温发热源(1)以检测所述军用热像观瞄具(3)是否能够检测到所述变温发热源(1);
S2,驱动所述竖向隔板(8)沿其周向方向转动,同时,通过军用热像观瞄具(3)检测所述变温发热源(1)以检测构成军用热像观瞄具(3)的各个红外线检测部件是否能够正常工作。
8.根据权利要求7所述的军用热像观瞄具的检测设备其检测方法,其特征在于,在步骤S1中,
所述变温发热源(1)和所述阻挡格栅(2)之间的温差从大到小逐渐变化至0.01开尔文。
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