[发明专利]点云处理方法及设备、自动识别系统和激光雷达

权利要求书

1.一种点云处理方法，其特征在于，包括：

获取点云对应的二维鸟瞰图；

基于所述二维鸟瞰图，进行第一特征提取，得到第一特征图；

对所述第一特征图进行目标检测，得到目标检测结果。

2.根据权利要求1所述的点云处理方法，其特征在于，所述获取点云对应的二维鸟瞰图，包括：

获取所述点云对应的深度图像；

对所述深度图像进行第二特征提取，得到第二特征图；

对所述第二特征图进行透视变换，得到所述二维鸟瞰图。

3.根据权利要求1所述的点云处理方法，其特征在于，所述获取点云对应的二维鸟瞰图，包括：

获取所述点云对应的深度图像；

对所述深度图像进行多个阶段的第二特征提取，其中，各阶段的第二特征中间结果的特征维度不同；

在所述多个阶段中，获取至少一个指定阶段的第二特征中间结果进行透视变换，得到相应的阶段透视图，以确定所述深度图像对应的二维鸟瞰图。

4.根据权利要求3所述的点云处理方法，其特征在于，所述在所述多个阶段中，获取至少一个指定阶段的第二特征中间结果进行透视变换，得到相应的阶段透视图，以确定所述深度图像对应的二维鸟瞰图，包括：

在所述多个阶段中，获取一个指定阶段的第二特征中间结果进行透视变换，得到相应的一个阶段透视图，作为所述二维鸟瞰图。

5.根据权利要求3所述的点云处理方法，其特征在于，所述在所述多个阶段中，获取至少一个指定阶段的第二特征中间结果进行透视变换，得到相应的阶段透视图，以确定所述深度图像对应的二维鸟瞰图，包括：

在所述多个阶段中，获取多个指定阶段的第二特征中间结果，并对各所述第二特征中间结果分别进行透视变换，得到相应的多个阶段透视图；

根据多个所述阶段透视图，确定多个所述二维鸟瞰图；

所述基于所述二维鸟瞰图，进行第一特征提取，得到第一特征图，包括：

基于多个所述二维鸟瞰图，进行第一特征提取，得到所述第一特征图。

6.根据权利要求5所述的点云处理方法，其特征在于，所述基于多个所述二维鸟瞰图，进行第一特征提取，得到所述第一特征图，包括：

分别对各所述二维鸟瞰图执行第一特征提取，以获得相应的第一子特征图；

根据多个所述第一子特征图，确定所述第一特征图。

7.根据权利要求5所述的点云处理方法，其特征在于，所述基于多个所述二维鸟瞰图，进行第一特征提取，得到所述第一特征图，包括：

分别对各所述二维鸟瞰图进行至少一个阶段的第一特征提取；

根据设定的选择阶段，获取对应的第一特征中间结果；其中，所述选择阶段的第一特征中间结果的特征维度确定；并且，对应同一选择阶段的第一特征中间结果的特征维度相同；

将所述对应同一选择阶段的第一特征中间结果进行整合，以获得阶段子特征结果；

根据所述阶段子特征结果，确定所述第一特征图。

8.根据权利要求3所述的点云处理方法，其特征在于，所述在所述多个阶段中，获取至少一个指定阶段的第二特征中间结果进行透视变换，得到相应的阶段透视图，包括：

在所述多个阶段中，获取至少一个指定阶段的第二特征中间结果进行上采样，以使所述第二特征中间结果的尺寸与所述深度图像的尺寸一致；

基于上采样后的第二特征中间结果与所述点云的对应关系，对所述上采样后的第二特征中间结果进行透视变换，得到所述二维鸟瞰图。