[发明专利]受损部件载体确定方法、计算机程序、计算机可读介质以及检测系统

权利要求书

1.一种用于确定受损的部件载体(18)的方法，每个部件载体(18)包括隔离层(20)和所述隔离层(20)上的导电迹线(24)，所述导电迹线(24)与通孔(26)电力地互连以便形成导电路径(28)，所述方法包括：

接收针对多个均等设计的部件载体(18)的导电路径(28)的电阻测量，其中，所述电阻测量包括针对所述多个均等设计的部件载体(18)的相同导电路径(28)测量的电阻值(30)；

针对所述多个均等设计的部件载体(18)的每个相同导电路径(28)：

确定针对所述相同导电路径(28)测量的电阻值(30)的主范围(IQR)，其中，在所述主范围(IQR)中包含有所述相同导电路径(28)的多于预定义数量的电阻值(30)；

确定所述主范围(IQR)上方的间隔范围(D)，所述间隔范围(D)具有比所述主范围(IQR)的上主范围边界(Q3)高的上间隔范围边界(5IQR)；

当针对所述相同导电路径(28)测量的所述部件载体(18)的电阻值(30)比所述上间隔范围边界(5IQR)高时并且当针对所述导电路径(28)的所述间隔范围(D)不包含针对所述相同导电路径(28)测量的电阻值(30)时，将部件载体(18)分类为受损的。

2.根据权利要求1所述的方法，

其中，预定义数量的电阻值(30)是所述导电路径(28)的电阻值(30)的至少一半。

3.根据权利要求1或2所述的方法，

其中，所述主范围(IQR)是从针对所述导电路径(28)的电阻值(30)的25％的四分点(Q1)延伸到75％的四分点(Q3)。

4.根据权利要求1或2所述的方法，

其中，所述间隔范围(D)是在下间隔范围边界(4IQR)与所述上间隔范围边界(5IQR)之间延伸的，并且

其中，所述上主范围边界(Q3)与所述上间隔范围边界(5IQR)之间的距离比所述主范围(IQR)的宽度高至少两倍。

5.根据权利要求1或2所述的方法，

其中，所述上主范围边界(Q3)与下间隔范围边界(4IQR)之间的距离等于所述主范围(IQR)的宽度的至少2倍或至少4倍。

6.根据权利要求1或2所述的方法，

其中，所述上主范围边界(Q3)与下间隔范围边界之间的距离是所述导电路径(28)的电阻值(30)的四分位数间距的至少2倍。

7.根据权利要求6所述的方法，

其中，所述上主范围边界(Q3)与所述下间隔范围边界(4IQR)之间的距离是所述导电路径(28)的电阻值(30)的四分位数间距的4倍。

8.根据权利要求1或2所述的方法，

其中，所述间隔范围(D)具有所述主范围(IQR)的宽度的至少一半以及/或者具有与所述主范围(IQR)相同的宽度。

9.根据权利要求1或2所述的方法，

其中，所述间隔范围(D)具有所述导电路径(28)的电阻值(30)的四分位数间距的至少一半的宽度或四分位数间距的宽度。

10.根据权利要求1或2所述的方法，还包括：

当导电路径(28)具有比预设电阻阈值(34)高的电阻值(30a)时，将部件载体(18)分类为受损的。

11.根据权利要求1或2所述的方法，

其中，所述多个均等设计的部件载体(18)是一批次的部件载体(18)。

12.根据权利要求11所述的方法，

当所述批次中的部件载体(18)的至少一个导电路径(28)具有比预设电阻阈值(34)高的电阻值(30a)时并且当所述批次中的部件载体(18)的导电路径(28)具有比所述上间隔范围边界(5IQR)高的电阻值时，将所述批次分类为有风险的。