[发明专利]光电观测设备图像延迟的测量装置及方法在审
申请号: | 202110234543.X | 申请日: | 2021-03-03 |
公开(公告)号: | CN112857755A | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 范立强;紫京浩 | 申请(专利权)人: | 北京宏大天成防务装备科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京八月瓜知识产权代理有限公司 11543 | 代理人: | 李斌 |
地址: | 101318 北京市顺义区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 观测 设备 图像 延迟 测量 装置 方法 | ||
本发明公开了一种光电观测设备图像延迟的测量装置及方法,包括:光电路模块,与测量模块连接,用于将电信号转换成光信号,并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上;测量模块,与所述光电路模块和光电观测设备的测试点连接,用于测试两个测试点的信号变化,并基于所述信号变化确定所述成像传感器ISP的图像延迟时间。本发明图像延迟测量简便,测量精度高,光电设备光源容易产生。
技术领域
本发明涉及图像延迟测量领域,尤其是涉及一种光电观测设备图像延迟的测量装置及方法。
背景技术
当前光电观测设备图像延迟测量不易,测量精度不高,光电设备光源产生不易等问题突出,亟待解决上述问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光电观测设备图像延迟的测量装置,旨在解决图像延迟测量不易,测量精度不高,光电设备光源产生不易等问题。
本发明提供一种光电观测设备图像延迟的测量装置,包括:
光电路模块,与测量模块连接,用于将电信号转换成光信号,并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上;
测量模块,与所述光电路模块和光电观测设备的测试点连接,用于测试两个测试点的信号变化,并基于所述信号变化确定所述成像传感器ISP 的图像延迟时间。
优选的,所述光电路模块包括:按键、发光二极管、限流电阻和电源,其中:
所述按键,其一端与所述电源正极连接,用于根据用户的操作接通或断开电路;
所述电源,其负极与所述限流电阻的一端连接并接地,用于为所述光电路模块提供电源;
所述限流电阻,另一端与发光二极管的一端连接,用于限流;
所述发光二极管,其另一端与按键的另一端连接,用于在电源接通且按键连通的情况下,将电信号转换成光信号,并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上。
优选的,一个测试点位于所述按键与所述发光二极管的连接线上,另一个测试点位于光电观测设备的成像传感器与显示器的连接线上。
优选的,所述测量模块为示波器。
本发明还提供一种光电观测设备图像延迟的测量方法,用于上述所述的光电观测设备图像延迟的测量装置,所述方法包括:
通过光电路模块将电信号转换成光信号,并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上;
通过测量模块测试与所述光电路模块和光电观测设备连接的两个测试点的信号变化,并基于所述信号变化确定所述成像传感器ISP的图像延迟时间。
优选的,通过光电路模块将电信号转换成光信号,并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上具体包括:
通过光电路模块接收到用于按下按键的操作后,通过所述光电路模块中的发光二极管发出光信号,并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上。
优选的,通过测量模块测试与所述光电路模块和光电观测设备连接的两个测试点的信号变化,并基于所述信号变化确定所述成像传感器ISP的图像延迟时间具体包括:
将测量模块的表笔CH1信号源设置成上升沿触发模式,检测第一测试点处信号变化,其中,所述第一测试点位于所述按键与所述发光二极管的连接线上;
将测量模块的表笔CH2信号源设置成上升沿触发模式,检测第二测试点处信号变化;其中,所述第二测试点位于光电观测设备的成像传感器与显示器的连接线上;
通过测量模块测量表笔CH1与表笔CH2之间的触发时间差△t,并根据触发时间差△t确定所述成像传感器ISP的图像延迟时间。
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