[发明专利]光电观测设备图像延迟的测量装置及方法在审
申请号: | 202110234543.X | 申请日: | 2021-03-03 |
公开(公告)号: | CN112857755A | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 范立强;紫京浩 | 申请(专利权)人: | 北京宏大天成防务装备科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京八月瓜知识产权代理有限公司 11543 | 代理人: | 李斌 |
地址: | 101318 北京市顺义区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 观测 设备 图像 延迟 测量 装置 方法 | ||
1.一种光电观测设备图像延迟的测量装置,其特征在于,包括:
光电路模块,与测量模块连接,用于将电信号转换成光信号,并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上;
测量模块,与所述光电路模块和光电观测设备的测试点连接,用于测试两个测试点的信号变化,并基于所述信号变化确定所述成像传感器ISP的图像延迟时间。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述光电路模块包括:按键、发光二极管、限流电阻和电源,其中:
所述按键,其一端与所述电源正极连接,用于根据用户的操作接通或断开电路;
所述电源,其负极与所述限流电阻的一端连接并接地,用于为所述光电路模块提供电源;
所述限流电阻,另一端与发光二极管的一端连接,用于限流;
所述发光二极管,其另一端与按键的另一端连接,用于在电源接通且按键连通的情况下,将电信号转换成光信号,并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,一个测试点位于所述按键与所述发光二极管的连接线上,另一个测试点位于光电观测设备的成像传感器与显示器的连接线上。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述测量模块为示波器。
5.一种光电观测设备图像延迟的测量方法,其特征在于,用于权利要求1至3中任一项所述的光电观测设备图像延迟的测量装置,所述方法包括:
通过光电路模块将电信号转换成光信号,并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上;
通过测量模块测试与所述光电路模块和光电观测设备连接的两个测试点的信号变化,并基于所述信号变化确定所述成像传感器ISP的图像延迟时间。
6.根据权利要求5所述的一种方法,其特征在于,通过光电路模块将电信号转换成光信号,并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上具体包括:
通过光电路模块接收到用于按下按键的操作后,通过所述光电路模块中的发光二极管发出光信号,并将光信号传输到光电观测设备的成像传感器上。
7.根据权利要求5所述的一种方法,其特征在于,通过测量模块测试与所述光电路模块和光电观测设备连接的两个测试点的信号变化,并基于所述信号变化确定所述成像传感器ISP的图像延迟时间具体包括:
将测量模块的表笔CH1信号源设置成上升沿触发模式,检测第一测试点处信号变化,其中,所述第一测试点位于所述按键与所述发光二极管的连接线上;
将测量模块的表笔CH2信号源设置成上升沿触发模式,检测第二测试点处信号变化;其中,所述第二测试点位于光电观测设备的成像传感器与显示器的连接线上;
通过测量模块测量表笔CH1与表笔CH2之间的触发时间差△t,并根据触发时间差△t确定所述成像传感器ISP的图像延迟时间。
8.一种光电观测设备图像延迟的高精度测量装置,其特征在于,包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求5至7中任一项所述的一种光电观测设备图像延迟的高精度测量方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有信息传递的实现程序,所述程序被处理器执行时实现如权利要求5至7中任一项所述的一种光电观测设备图像延迟的高精度测量方法的步骤。
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