[发明专利]基于高程和角度约束的遮挡检测方法

权利要求书

1.一种基于高程和角度约束的遮挡检测方法，其特征在于：其步骤是：

S1、每一个柱状表示一个像素点，投影中心P_S，在三维空间里，像素点与投影中心的位置关系可用四个参数表示，其中(X,Y,Z)为像素点的位置，为投影中心相对像素点的仰角，保留对当前点进行可见性分析的结果信息，记录对应的五个参数Visible为该点的可见性；

S2、将最高点的高程置于影像的最远处，在整幅影像中投影中心相对像素点的仰角最小，当仰角为此值时，可以计算出变化单个像素距离产生的高程差为H_V；当内层点高程与外层点高程的差小于H_V时，内层点可见则外层点必然可见，会存在这样的一个高程H_dV，使得当内层点的高程比外层点的高程大H_dV时，若内层点不可见则外层点必然不可见；

S3、检测某一地物点3是否可见时，先判断搜索路径上与前一层的交点是否可见，其中交点定义为地物点2，判断步骤为：

(1)若地物点2可见，并且Z₃+H_V＞Z₂，则地物点3可见；

(2)若地物点2可见，并且Z₃+H_V＜Z₂，则计算地物点2和地物点3的仰角表征值和若地物点3可见；否则地物点3不可见，并将替代写入地物点3的记录参数中；

(3)若地物点2不可见，则计算地物点3的仰角表征值若地物点3可见；否则地物点3不可见，并将替代写入地物点3的记录参数中。

2.根据权利要求1所述的基于高程和角度约束的遮挡检测方法，其特征在于：可见性分析流程：

S1、假定地底点附近的四个地物点可见，并记录他们各自的五个参数每一层的起始点为圆形标记的地物点，按照逆时针的顺序对当前层逐点进行判断，并记录每个点对应的记录参数，当某一边搜索到边缘时，直接跳过进入其它边的地物点，依次逐层向外对地物进行可见性分析，直到所有地物点的可见性分析完成；

S2、检测某一地物点P(X_P,Y_P,Z_P)是否可见时，先计算投影光线与向内一层的交点Q(X,Y)，此时Q所在层最近的两个地物点Q₁和Q₂的可见性已知，假定点Q₁和Q₂的记录参数分别为和对地物点P进行可见性分析可分为以下两种情况：

(1)地物点Q₁和Q₂都可见，即V₁V₂＝true；如果满足Z_P+H_V＞Z₁且Z_P+H_V＞Z₂，则地物点P可见，否则不能判断地物点P的可见性；若Z_P+H_V＞Z_Q，则地物点P可见，否则计算地物点Q的值和地物点P的值；若则地物点P可见，否则地物点P不可见；

(2)地物点Q₁和Q₂有一个不可见，即V₁V₂＝false；计算地物点P的值，如果满足且则地物点P不可见；否则计算地物点Q的其中k＝(X-X₁)/(X₂-X₁)； 若则地物点P可见，否则地物点P不可见。