[发明专利]一种用于微功耗设备的平均功耗测试装置

权利要求书

1.一种用于微功耗设备的平均功耗测试装置，其特征在于，包括可控恒流源、储能电容、负载开关、电容电压检测、测控MCU、以及测控人机接口，所述可控恒流源与储能电容相连，所述储能电容与电容电压检测相连，所述电容电压检测与测控MCU相连，所述测控MCU与测控人机接口相连，所述储能电容与负载开关相连，所述负载开关用于连接被测对象，所述测控MCU和测控人机接口相配合控制可控恒流源、储能电容、电容电压检测和负载开关工作，所述储能电容经可控恒流源充电后，通过负载开关与被测对象相连，所述电容电压检测实时检测储能电容的电能，根据储能电容消耗的电能和放电时间来计算被测对象的平均功耗。

2.根据权利要求1所述一种用于微功耗设备的平均功耗测试装置，其特征在于，所述可控恒流源包括稳压芯片Z1、电阻R1、电阻R2、电阻R3、MOS管Q1、MOS管Q2、常开触点S1、常开触点S2、常开触点S3、以及运算放大器U1，所述稳压芯片Z1的阳极接运算放大器U1的同向输入端和电阻R1的一端，所述电阻R1的另一端接运算放大器U1的负电源端和地，所述稳压芯片Z1的阴极接常开触点S1，并通过常开触点S1与电阻R2的一端相连，所述稳压芯片Z1的阴极接常开触点S2，并通过常开触点S2与电阻R3的一端相连，所述运算放大器U1的反向输入端接电阻R2的另一端、电阻R3的另一端和MOS管Q2的发射极，所述运算放大器U1的输出端接MOS管Q1的基极，所述MOS管Q1的发射极接MOS管Q2的基极，所述MOS管Q1的集电极接MOS管Q2的集电极和常开触点S3。

3.根据权利要求1所述一种用于微功耗设备的平均功耗测试装置，其特征在于，所述储能电容包括单刀双掷触点S4、单刀双掷触点S5、单刀双掷触点S6、电容C1、电容C2、电容C3、以及电容C4，所述单刀双掷触点S4的刀端接可控恒流源，所述单刀双掷触点S4的其中一个掷端接单刀双掷触点S5的刀端，所述单刀双掷触点S5的其中一个掷端接电容C1的一端，所述单刀双掷触点S5的另一个掷端接电容C2，所述单刀双掷触点S4的另一个掷端接单刀双掷触点S6的刀端，所述单刀双掷触点S6的其中一个掷端接电容C3的一端，所述单刀双掷触点S6的另一个掷端接电容C4的一端，所述电容C1的另一端接电容C2的另一端、电容C3的另一端和电容C4的另一端，且其公共连接端接地。

4.根据权利要求1所述一种用于微功耗设备的平均功耗测试装置，其特征在于，所述负载开关包括常开触点S7、常开触点S8和电阻R4，所述常开触点S7的刀端接可控恒流源和常开触点S8，所述常开触点S7的掷端接电阻R4的一端，所述电阻R4的另一端接地。

5.根据权利要求1所述一种用于微功耗设备的平均功耗测试装置，其特征在于，所述电容电压检测包括运算放大器U2A、运算放大器U2B、A/D转换器U3、电阻R5、电阻R6、电阻R7、以及电阻R8，所述运算放大器U2A的输出端接电阻R5的一端和运算放大器U2A的反向输入端，所述运算放大器U2A的负电源端接地和电阻R6的一端，所述电阻R5的另一端接电阻R6的另一端和运算放大器U2B的同向输入端，所述运算放大器U2B的输出端接运算放大器U2B的反向输入端，所述A/D转换器U3设有10个脚，所述A/D转换器U3的第一脚、第三脚和第五脚均接地，所述A/D转换器U3的第四脚接运算放大器U2B的输出端，所述A/D转换器U3的第六脚和第七脚接地，所述A/D转换器U3的第八脚接电阻R7的一端和电阻R8的一端，所述A/D转换器U3的第九脚接电阻R7的另一端，所述A/D转换器U3的第十脚接电阻R8的另一端。