[发明专利]一种曲线检测方法及装置在审
申请号: | 202110205455.7 | 申请日: | 2021-02-24 |
公开(公告)号: | CN112927201A | 公开(公告)日: | 2021-06-08 |
发明(设计)人: | 钱扬;翁仁亮 | 申请(专利权)人: | 北京爱笔科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 柳欣 |
地址: | 100094 北京市海淀区北清路*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 曲线 检测 方法 装置 | ||
1.一种曲线检测方法,其特征在于,包括:
对前景点集合中的前景点进行采样,获得样本集合;所述样本集合中的样本包括第一预设数目个前景点;
根据所述样本中包含的前景点的位置获得所述样本对应的曲线;
根据所述前景点集合中各个前景点与所述曲线的相对位置获得所述样本的适应值;
根据所述样本集合中各个样本的适应值确定目标曲线。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述前景点集合中各个前景点与所述曲线的相对位置获得所述样本的适应值,包括:
根据所述前景点集合中各个前景点与所述曲线的相对位置,获得所述各个前景点与所述曲线的距离;
将所述各个前景点与所述曲线的距离分别与预设距离阈值进行比较;
将所述前景点集合中与所述曲线的距离小于所述预设距离阈值的前景点的数目记为所述样本的适应值。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述样本集合中各个样本的适应值确定目标曲线,包括:
将所述各个样本中适应值最大的样本对应的曲线确定为所述目标曲线。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述样本集合中各个样本的适应值确定目标曲线,包括:
当预设截止条件满足时,将历次迭代中适应值最大的样本对应的曲线确定为所述目标曲线;
当所述预设截止条件不满足时,根据所述各个样本的适应值确定出适应值较大的前第二预设数目个样本;对所述适应值较大的前第二预设数目个样本包含的前景点的采样概率进行更新;更新后的采样概率用于在下一次迭代中对前景点集合中的前景点进行采样。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述预设截止条件,包括:
迭代次数达到第三预设数目次;或者,连续迭代第四预设数目次确定出的适应值最大的样本一致。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述前景点集合中各个前景点初始化的采样概率为1/X,其中所述X为所述前景点集合包含的前景点的总数量;所述对所述适应值较大的前第二预设数目个样本包含的前景点的采样概率进行更新,包括:
将所述适应值较大的前第二预设数目个样本包含的前景点作为采样概率待更新的前景点;
对于每一个采样概率待更新的前景点,统计该采样概率待更新的前景点在所述适应值较大的前第二预设数目个样本中出现的总次数Y,将该采样概率待更新的前景点的当前采样概率与Y/X之和作为该采样概率待更新的前景点更新后的采样概率。
7.根据权利要求4-6任一项所述的方法,其特征在于,在所述对所述适应值较大的前第二预设数目个样本包含的前景点的采样概率进行更新之后,所述方法还包括:
对所述前景点集合中各个前景点的采样概率进行归一化处理。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对前景点集合中的前景点进行采样,获得样本集合,包括:
对前景点集合以各个前景点的当前采样概率随机采样第一预设数目个前景点,得到待检验样本;
当所述待检验样本满足预设先验条件时,确定所述待检验样本检验合格,将所述待检验样本加入到所述样本集合中;
所述预设先验条件包括:形态先验条件和/或时序先验条件。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述对前景点集合中的前景点进行采样之前,所述方法还包括:
从传感器检测结果中识别出所有的前景点;所述前景点为二维数据或者所述前景点为三维数据;
根据识别出的所有的前景点构建所述前景点集合。
10.一种曲线检测装置,其特征在于,包括:
采样模块,用于对前景点集合中的前景点进行采样,获得样本集合;
所述样本集合中的样本包括第一预设数目个前景点;
曲线生成模块,用于根据所述样本中包含的前景点的位置获得所述样本对应的曲线;
适应值获取模块,用于根据所述前景点集合中各个前景点与所述曲线的相对位置获得所述样本的适应值;
目标曲线确定模块,用于根据所述样本集合中各个样本的适应值确定目标曲线。
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