[发明专利]一种电缆无损检测装置在审
申请号: | 202110203399.3 | 申请日: | 2021-02-24 |
公开(公告)号: | CN112730483A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 郭锴悦;赵天琦;金尚忠;周亚东;赵春柳 | 申请(专利权)人: | 中国计量大学 |
主分类号: | G01N23/18 | 分类号: | G01N23/18 |
代理公司: | 杭州钤韬知识产权代理事务所(普通合伙) 33329 | 代理人: | 唐灵;赵杰香 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电缆 无损 检测 装置 | ||
本发明公开了一种电缆无损检测装置,包括X射线发射单元,用于向待测的电缆发出X射线,产生X射线穿透区域;探测单元,设置在所述待测的电缆后方,用于接受由所述X射线发射单元发出的X射线,该探测单元包括闪烁晶体阵列层和硅光电倍增管阵列层,所述闪烁晶体阵列层包括多个闪烁晶体,每个所述闪烁晶体被配置为在所述X射线激发下能够产生光子,所述硅光电倍增管阵列层包括与该闪烁晶体阵列层的每个闪烁晶体一一对应的硅光电倍增管,每个所述硅光电倍增管被配置为当对应的闪烁晶体产生光子时,该硅光电倍增管输出一电流信号;处理器,用于接收和处理所述电流信号,并根据该电流信号生成检测结果。
技术领域
本发明属于电缆检测领域,具体涉及一种电缆电缆无损检测装置。
背景技术
随着城市电网电缆化的程度不断提高,电缆供电可靠性的要求也不断提高,在实际的线路运行过程中,由于施工、老化、制造缺陷、安装缺陷等因素,导致电缆故障几率非常高。电缆故障导致无法正常供电,严重影响到企业生产、日常生活、城市建设等多方面,给用户造成巨大的损失。准确掌握电缆的内部状态,制定正确的检修对策,避免因电缆质量问题导致突发性事故的发生,十分重要,现有的带电检测技术不能及时有效进行检测。如果不能及时发现,运行过程中可能会产生局部过热、甚至烧坏电缆,严重影响电网和人身安全。通常,只能通过停电检修的离线的方法进行电缆解体分析,进而了解电缆内部的缺陷。不同的离线条件,导致高压电缆的部分绝缘隐患难以发现,同时停电试验检修会造成一定的经济损失以及负面的社会影响。此方法检测成本高,时效性滞后,效果较差。因此,在不破坏电力电缆外观的情况下采用有效的检测方法,对电缆行实时准确地检查是非常有必要的。
传统的检测手段因其较低的精度、可靠性以及安全性,越来越难以对故障做出及时的判别和诊断,难以应用于电缆及中间接头在线实时检测与故障排除,而其他能够满足对电缆的在线检测手段多以超声波、高频局放检测为主,受现场干扰较大。
发明内容
为了解决上述问题,本发明提供一种电缆无损检测装置,可监测带电运行状态下的电缆的内部情况。
本发明提供一种电缆无损检测装置,包括:
X射线发射单元,用于向待测的电缆发出X射线,产生X射线穿透区域;
探测单元,设置在所述待测的电缆后方,用于接受由所述X射线发射单元发出的X射线,该探测单元包括闪烁晶体阵列层和硅光电倍增管阵列层,
所述闪烁晶体阵列层包括多个闪烁晶体,每个所述闪烁晶体被配置为在所述X射线激发下能够产生光子,
所述硅光电倍增管阵列层包括与该闪烁晶体阵列层的每个闪烁晶体一一对应的硅光电倍增管,每个所述硅光电倍增管被配置为当对应的闪烁晶体产生光子时,该硅光电倍增管输出一电流信号;
处理器,用于接受和处理所述电流信号,并根据该电流信号生成检测结果。
可选的,所述硅光电倍增管输出的电流信号包括强度信息,该电流信号中的强度信息与所述闪烁晶体发出的光子强度成正比,所述处理器根据所述强度信息,判断所述待测的电缆中有无破损。
可选的,所述硅光电倍增管输出的电流信号包括位置信息,该电流信号中的位置信息为带有所述闪烁晶体在该闪烁晶体阵列层的位置坐标和与该闪烁晶体对应的硅光电倍增管在所述硅光电倍增管阵列层的位置坐标,所述处理器根据所述位置信息,判断所述待测的电缆缺陷的具体位置。
可选的,X射线发射单元包括X射线源模块和准直器,所述X射线源模块包括X光机控制器、高压发生器和X射线管,所述X光机控制器与高压发生器连接,所述高压发生器与X射线管连接,所述X射线管与准直器连接,所述准直器用于设置X射线的辐射区域。
可选的,所述处理器包括数据采集软件,可以同时设置所述X射线源模块与所述闪烁体探测器参数,实现脉冲同步。
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