[发明专利]一种电缆无损检测装置在审
申请号: | 202110203399.3 | 申请日: | 2021-02-24 |
公开(公告)号: | CN112730483A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 郭锴悦;赵天琦;金尚忠;周亚东;赵春柳 | 申请(专利权)人: | 中国计量大学 |
主分类号: | G01N23/18 | 分类号: | G01N23/18 |
代理公司: | 杭州钤韬知识产权代理事务所(普通合伙) 33329 | 代理人: | 唐灵;赵杰香 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电缆 无损 检测 装置 | ||
1.一种电缆无损检测装置,其特征在于:
X射线发射单元,用于向待测的电缆发出X射线,产生X射线穿透区域;
探测单元,设置在所述待测的电缆后方,用于接受由所述X射线发射单元发出的X射线,该探测单元包括闪烁晶体阵列层和硅光电倍增管阵列层,
所述闪烁晶体阵列层包括多个闪烁晶体,每个所述闪烁晶体被配置为在所述X射线激发下能够产生光子,
所述硅光电倍增管阵列层包括与该闪烁晶体阵列层的每个闪烁晶体一一对应的硅光电倍增管,每个所述硅光电倍增管被配置为当对应的闪烁晶体产生光子时,该硅光电倍增管输出一电流信号;
处理器,用于接收和处理所述电流信号,并根据该电流信号生成检测结果。
2.根据权利要求1所述的电缆无损检测装置,其特征在于:所述硅光电倍增管输出的电流信号包括强度信息,该电流信号中的强度信息与所述闪烁晶体发出的光子强度成正比,所述处理器根据所述强度信息,判断所述待测的电缆中有无破损。
3.根据权利要求1所述的电缆无损检测装置,其特征在于:所述硅光电倍增管输出的电流信号包括位置信息,该电流信号中的位置信息为带有所述闪烁晶体在该闪烁晶体阵列层的位置坐标和与该闪烁晶体对应的硅光电倍增管在所述硅光电倍增管阵列层的位置坐标,所述处理器根据所述位置信息,判断所述待测的电缆缺陷的具体位置。
4.根据权利要求1所述的电缆无损检测装置,其特征在于:X射线发射单元包括X射线源模块和准直器,所述X射线源模块包括X光机控制器、高压发生器和X射线管,所述X光机控制器与高压发生器连接,所述高压发生器与X射线管连接,所述X射线管与准直器连接,所述准直器用于设置X射线的辐射区域。
5.根据权利要求4所述的电缆无损检测装置,其特征在于:所述处理器包括数据采集软件,可以同时设置所述X射线源模块与所述闪烁体探测器参数,实现脉冲同步。
6.根据权利要求1所述的电缆无损检测装置,其特征在于:所述处理器包括图像处理模块,用于处理所述电流信号使其形成可视化图像,同时实现图像采集、图像分析和图像保存。
7.根据权利要求1所述的电缆无损检测装置,其特征在于:所述X射线发射单元与所述探测单元根据电缆径向相对设置。
8.根据权利要求1所述的电缆无损检测装置,其特征在于:所述处理器、所述X射线发射单元和所述探测单元之间无线连接。
9.根据权利要求1所述的电缆无损检测装置,其特征在于:还包括显示装置,用于呈现从所述处理器输出的检测结果。
10.根据权利要求9所述的电缆无损检测装置,其特征在于:所述输出结果为实时图像,可用于实时观察电缆情况。
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