[发明专利]利用硅酸盐加瓷处理绿松石的鉴定方法、系统、介质在审
申请号: | 202110196410.8 | 申请日: | 2021-02-22 |
公开(公告)号: | CN113189124A | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 陈全莉;黄莉莹;徐丰舜;艾苏洁 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(武汉) |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G01N23/2202;G01N21/95;G01N21/87;G01N21/3563;G01N21/33;G01N21/31 |
代理公司: | 重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙) 50230 | 代理人: | 陈炳萍 |
地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 硅酸盐 处理 绿松石 鉴定 方法 系统 介质 | ||
1.一种利用硅酸盐“加瓷”处理绿松石的鉴定方法,其特征在于,所述利用硅酸盐“加瓷”处理绿松石的鉴定方法包括:
选择天然及“加瓷”处理绿松石的样品,打磨成型;
进行样品的能谱色散型X射线荧光光谱分析测试,测试使用绿松石工作曲线,并对测试结果进行归一化处理;
进行样品的红外吸收光谱分析测试,并基于测试结果进行TR→AB谱图转换及基线调整,归纳出相应红外吸收光谱图。
2.如权利要求1所述的硅酸盐“加瓷”处理绿松石的鉴定方法,其特征在于,所述进行样品的能谱色散型X射线荧光光谱分析测试所用的紫外可见分光光度计型号为Lambda 650S。
3.如权利要求1所述的利用硅酸盐“加瓷”处理绿松石的鉴定方法,其特征在于,所述对样品进行能谱色散型X射线荧光光谱分析测试的方法为:表面反射法,分辨率1nm;激发光源为钨灯源,A光源,色温2850K;室温为22℃,测试波长范围为250-800nm。
4.如权利要求1所述的利用硅酸盐“加瓷”处理绿松石的鉴定方法,其特征在于,所述进行样品的红外吸收光谱分析测试的红外光谱仪为BRUKER VERTEX80。
5.如权利要求1所述的利用硅酸盐“加瓷”处理绿松石的鉴定方法,其特征在于,所述对样品进行红外吸收光谱分析测试的方法为:制作溴化钾压片,并使用透射法,扫描样品的次数为32次,扫描背景的次数为32次,分辨率是4cm-1,光阑设置8mm。
6.如权利要求5所述的利用硅酸盐“加瓷”处理绿松石的鉴定方法,其特征在于,所述扫描范围400-4000cm-1,重复测试3次,室温22℃。
7.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如下步骤:
选择天然及“加瓷”处理绿松石的样品,打磨成型;
进行样品的能谱色散型X射线荧光光谱分析测试,测试使用绿松石工作曲线,并对测试结果进行归一化处理;
进行样品的红外吸收光谱分析测试,并基于测试结果进行TR→AB谱图转换及基线调整,归纳出相应红外吸收光谱图。
8.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行如下步骤:
选择天然及“加瓷”处理绿松石的样品,打磨成型;
进行样品的能谱色散型X射线荧光光谱分析测试,测试使用绿松石工作曲线,并对测试结果进行归一化处理;
进行样品的红外吸收光谱分析测试,并基于测试结果进行TR→AB谱图转换及基线调整,归纳出相应红外吸收光谱图。
9.一种信息数据处理终端,其特征在于,所述信息数据处理终端用于实现权利要求1~6任意一项所述的利用硅酸盐“加瓷”处理绿松石的鉴定方法。
10.一种实施权利要求1~6任意一项所述的利用硅酸盐“加瓷”处理绿松石的鉴定方法的硅酸盐“加瓷”处理绿松石的鉴定系统,其特征在于,所述硅酸盐“加瓷”处理绿松石的鉴定系统包括:
打磨处理模块,用于选择天然及“加瓷”处理绿松石的样品,打磨成型;
归一化处理模块,用于进行样品的能谱色散型X射线荧光光谱分析测试,测试使用绿松石工作曲线,并对测试结果进行归一化处理;
红外吸收光谱图归纳模块,用于进行样品的红外吸收光谱分析测试,并基于测试结果进行TR→AB谱图转换及基线调整,归纳出相应红外吸收光谱图。
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